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El analizador multifuncional de tensiones residuales, desarrollado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., está diseñado para satisfacer las necesidades de mediciones rápidas y precisas tanto en laboratorio como en campo. Basado principalmente en el principio de difracción de rayos X, permite realizar ensayos no destructivos del estado de tensión residual en el interior de los materiales. Análisis versátil todo en uno Este analizador integra múltiples funciones de análisis de materiales, mejorando significativamente la utilidad y la eficiencia del equipo: Análisis de tensión residual: admite varios modos de medición, como inclinación estándar (omega-inclinación), inclinación estándar (psi-inclinación) y oscilación estándar (oscilación), capaces de determinar tensiones principales y tensiones cortantes para una evaluación integral del estado de tensión. Análisis de austenita retenida: emplea el método de cuatro picos para pruebas de austenita retenida, con cálculo de datos totalmente automatizado para obtener resultados rápidos. Análisis de fase de difracción: se utiliza para analizar estructuras cristalinas, contenido y distribución de composición química, lo que ayuda a los investigadores a obtener conocimientos más profundos sobre la constitución del material. Análisis del tamaño de grano: admite la evaluación del tamaño de grano desde escala nanométrica hasta escala submicrónica, particularmente adecuado para granos finos ≤200 nm. Características técnicas y rendimiento Este instrumento cuenta con múltiples características técnicas orientadas a garantizar precisión, estabilidad y facilidad de uso: Medición y control de alta precisión: utiliza un sistema servoaccionamiento vectorial de circuito completamente cerrado de alta precisión para garantizar la precisión y repetibilidad de la medición. Adquisición de datos eficiente: equipado con un detector de matriz lineal de tira de silicio multicanal, que proporciona un rendimiento sin ruido, medición de alta intensidad y recopilación rápida de datos para mejorar la eficiencia de detección. Diseño portátil: presenta una construcción liviana, lo que lo hace adecuado no solo para entornos de laboratorio sino también para mediciones rápidas en sitio, adaptándose a varios escenarios de prueba. Operación fácil de usar: integra el sistema operativo Windows o funciones de automatización, lo que admite pruebas con un solo clic y visualización de resultados en tiempo real, lo que reduce la barrera operativa. Modularidad y seguridad: Emplea un sistema de control PLC con diseño modular para facilitar su operación y un rendimiento estable. En cuanto a la seguridad, su diseño de rayos X de baja potencia cumple con las normas de seguridad pertinentes, con niveles de radiación significativamente inferiores al límite anual de dosis pública. Amplios campos de aplicación El analizador de tensión residual multifuncional de Dandong Tongda tiene amplias aplicaciones, que cubren casi todos los sectores industriales e instituciones de investigación que requieren la evaluación de las propiedades mecánicas de los materiales: Control de calidad de fabricación: se utiliza para detectar tensiones residuales en piezas estampadas, fundidas y laminadas durante el procesamiento. Industria automotriz: prueba tensiones residuales en componentes críticos como árboles de levas y bielas para garantizar confiabilidad y durabilidad. Aeroespacial: evalúa las cargas de trabajo en áreas críticas de materiales aeroespaciales para evaluar la seguridad. Investigación en ciencia de materiales: aplicable a diversos materiales metálicos (por ejemplo, acero al carbono, acero aleado, aleación de titanio, materiales a base de níquel), vidrio y materiales compuestos para análisis de tensión residual, austenita retenida, fase y tamaño de grano. El analizador multifuncional de tensiones residuales de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. demuestra la experiencia técnica de la compañía en el campo de las pruebas de materiales al integrar múltiples funciones analíticas. Este instrumento ofrece a ingenieros e investigadores una perspectiva del estado de tensión intrínseco de los materiales, lo que ayuda a controlar la calidad del producto en origen, optimizar los parámetros del proceso y, por consiguiente, mejorar la fiabilidad y la durabilidad del producto.
El analizador multifuncional de tensiones residuales, desarrollado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., está diseñado para satisfacer las necesidades de mediciones rápidas y precisas tanto en laboratorio como en campo. Basado principalmente en el principio de difracción de rayos X, permite realizar ensayos no destructivos del estado de tensión residual en el interior de los materiales. Análisis versátil todo en uno Este analizador integra múltiples funciones de análisis de materiales, mejorando significativamente la utilidad y la eficiencia del equipo: Análisis de tensión residual: admite varios modos de medición, como inclinación estándar (omega-inclinación), inclinación estándar (psi-inclinación) y oscilación estándar (oscilación), capaces de determinar tensiones principales y tensiones cortantes para una evaluación integral del estado de tensión. Análisis de austenita retenida: emplea el método de cuatro picos para pruebas de austenita retenida, con cálculo de datos totalmente automatizado para obtener resultados rápidos. Análisis de fase de difracción: se utiliza para analizar estructuras cristalinas, contenido y distribución de composición química, lo que ayuda a los investigadores a obtener conocimientos más profundos sobre la constitución del material. Análisis del tamaño de grano: admite la evaluación del tamaño de grano desde escala nanométrica hasta escala submicrónica, particularmente adecuado para granos finos ≤200 nm. Características técnicas y rendimiento Este instrumento cuenta con múltiples características técnicas orientadas a garantizar precisión, estabilidad y facilidad de uso: Medición y control de alta precisión: utiliza un sistema servoaccionamiento vectorial de circuito completamente cerrado de alta precisión para garantizar la precisión y repetibilidad de la medición. Adquisición de datos eficiente: equipado con un detector de matriz lineal de tira de silicio multicanal, que proporciona un rendimiento sin ruido, medición de alta intensidad y recopilación rápida de datos para mejorar la eficiencia de detección. Diseño portátil: presenta una construcción liviana, lo que lo hace adecuado no solo para entornos de laboratorio sino también para mediciones rápidas en sitio, adaptándose a varios escenarios de prueba. Operación fácil de usar: integra el sistema operativo Windows o funciones de automatización, lo que admite pruebas con un solo clic y visualización de resultados en tiempo real, lo que reduce la barrera operativa. Modularidad y seguridad: Emplea un sistema de control PLC con diseño modular para facilitar su operación y un rendimiento estable. En cuanto a la seguridad, su diseño de rayos X de baja potencia cumple con las normas de seguridad pertinentes, con niveles de radiación significativamente inferiores al límite anual de dosis pública. Amplios campos de aplicación El analizador de tensión residual multifuncional de Dandong Tongda tiene amplias aplicaciones, que cubren casi todos los sectores industriales e instituciones de investigación que requieren la evaluación de las propiedades mecánicas de los materiales: Control de calidad de fabricación: se utiliza para detectar tensiones residuales en piezas estampadas, fundidas y laminadas durante el procesamiento. Industria automotriz: prueba tensiones residuales en componentes críticos como árboles de levas y bielas para garantizar confiabilidad y durabilidad. Aeroespacial: evalúa las cargas de trabajo en áreas críticas de materiales aeroespaciales para evaluar la seguridad. Investigación en ciencia de materiales: aplicable a diversos materiales metálicos (por ejemplo, acero al carbono, acero aleado, aleación de titanio, materiales a base de níquel), vidrio y materiales compuestos para análisis de tensión residual, austenita retenida, fase y tamaño de grano. El analizador multifuncional de tensiones residuales de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. demuestra la experiencia técnica de la compañía en el campo de las pruebas de materiales al integrar múltiples funciones analíticas. Este instrumento ofrece a ingenieros e investigadores una perspectiva del estado de tensión intrínseco de los materiales, lo que ayuda a controlar la calidad del producto en origen, optimizar los parámetros del proceso y, por consiguiente, mejorar la fiabilidad y la durabilidad del producto.
Una plataforma de muestra multifuncional es una plataforma experimental o de prueba que integra múltiples módulos funcionales y se utiliza para transportar, manipular y probar diferentes tipos de muestras (como materiales, muestras biológicas, componentes electrónicos, etc.). Suele ofrecer una configuración y escalabilidad flexibles para satisfacer diversas necesidades experimentales y se utiliza ampliamente en investigación científica, pruebas industriales, medicina y otros campos. 1. Funciones y características principales de la platina de muestra multifuncional (1) Ajuste multidimensional de la platina de muestra multifuncional Control de movimiento: admite movimientos precisos como traslación, rotación e inclinación de los ejes X/Y/Z, y es compatible con escaneo automático o ajuste fino manual. Simulación ambiental: Puede integrar módulos como control de temperatura (-196 ° C a varios miles de grados), control de humedad, entorno de vacío/atmósfera (como gas inerte, gas corrosivo), etc. Carga de fuerza/eléctrica/magnética: Algunos modelos admiten la aplicación de fuerza mecánica, corriente, campo magnético, etc., utilizados para estudiar el rendimiento de muestras en condiciones extremas. (2) Compatibilidad y escalabilidad del soporte de muestra multifuncional Adaptarse a múltiples instrumentos analíticos El diseño modular permite a los usuarios agregar funciones según sus necesidades, como estaciones de calentamiento, estaciones de enfriamiento, sistemas de infusión de fluidos, etc. (3) Alta precisión y estabilidad de la platina de muestra multifuncional. Precisión de desplazamiento de nivel nano, diseño antivibración, adecuado para observación in situ o experimentos a largo plazo. Algunos modelos admiten la caracterización in situ (como la observación en tiempo real de los cambios de la muestra durante los procesos de estiramiento, compresión y calentamiento). (4) Automatización e inteligencia del soporte de muestra multifuncional Las pruebas automatizadas se logran controlando las trayectorias de movimiento y los parámetros ambientales a través del software. Sensores integrados y sistema de adquisición de datos, registro en tiempo real de las reacciones de la muestra (como deformación, cambios de resistencia, etc.). 2. Escenarios de aplicación típicos de la mesa de muestra multifuncional: (1) Ciencia de los materiales del soporte de muestra multifuncional Estudiar el desempeño de los materiales en ambientes de alta/baja temperatura, estrés y corrosión. Observación SEM/TEM in situ de procesos de deformación de materiales, transformación de fases o cristalización. (2) Etapa de muestra multifuncional biomédica Los experimentos de cultivo celular y permeación de fármacos requieren control de temperatura, control de humedad y entorno gaseoso. Cooperar con imágenes microscópicas para observar los cambios dinámicos de muestras vivas. (3) Electrónica y semiconductores para soporte de muestra multifuncional Prueba de chip: proporciona funciones como posicionamiento de sonda, choque térmico y pruebas de rendimiento eléctrico. Posicionamiento y procesamiento de muestras en procesos de fotolitografía o recubrimiento. (4) Investigación química/energética en un soporte de muestra multifuncional Monitoreo in situ de reacciones catalíticas (como reacciones superficiales en condiciones de iluminación y calentamiento). Prueba de electrodos de batería (simulando expansión/contracción durante los procesos de carga y descarga).
El accesorio de medición integrado multifuncional del difractómetro de rayos X (DRX) es un componente clave para el análisis multiescena y multiescala. Gracias a su diseño modular, satisface las necesidades de difracción de polvo, dispersión angular pequeña, análisis de tensiones residuales, ensayos in situ, etc. A continuación, se presentan los accesorios de medición integrados multifuncionales más comunes y sus funciones principales: 1. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de control de temperatura y ambiente. (1) Función: Admite pruebas de muestras bajo control de alta temperatura, baja temperatura y humedad, y se utiliza para estudiar los cambios en la estructura cristalina de los materiales en diferentes condiciones de temperatura o humedad. (2) Características: Rango de temperatura: desde temperatura ambiente hasta 1500 ℃; Control automático de temperatura y regulación de humedad, adecuado para catálisis in situ, análisis de cambio de fase y otros experimentos. (3) Aplicación: Transición de fase de materiales metálicos, análisis de la cristalinidad de polímeros, investigación sobre la estabilidad térmica de materiales inorgánicos. 2. Muestreador automático y platina de muestra para accesorios de medición integrados multifuncionales (1) Función: Implementa el cambio automático y el posicionamiento preciso de múltiples muestras para mejorar la eficiencia de la prueba. (2) Características: Accesorios de apoyo como mesas de rotación de muestras y mesas de microdifracción para pruebas direccionales de muestras complejas; Colabore con software inteligente para optimizar los parámetros de medición e identificar automáticamente las configuraciones de muestra. (3) Aplicación: Pruebas de muestras por lotes, análisis de películas delgadas o microáreas. 3. Accesorios de medición integrados multifuncionales adecuados para detectores bidimensionales y detectores unidimensionales de alta velocidad (1) Función: Admite la recopilación de datos multidimensionales para mejorar la capacidad de análisis de muestras complejas. (2) Características: Detector unidimensional de alta velocidad, adecuado para difracción de polvo convencional; Detector de matriz de semiconductores bidimensional que puede cambiar entre modos de dimensión cero, unidimensional o bidimensional, ampliando las capacidades de prueba in situ dinámicas o de área micro. (3) Aplicación: Análisis de orientación de cristales de materiales 2D, monitoreo dinámico de reacciones in situ. 4. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de difracción de microárea y tensión residual. (1) Función: Realizar pruebas direccionales en la distribución de tensión o en pequeñas áreas de la superficie de los materiales. (2) Características: Combina el sistema óptico θ/θ con una fuente de rayos X de microfoco para lograr una microdifracción de nivel submilimétrico; medición no destructiva, utilizada para el análisis de tensión de piezas de metal y dispositivos semiconductores. (3) Aplicación: Pruebas de fatiga de componentes aeroespaciales, caracterización de tensiones de películas delgadas de semiconductores. 5. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de control de automatización y calibración inteligente. (1) Función: Garantizar la precisión y consistencia de las pruebas mediante el reconocimiento de componentes y la tecnología de calibración automática. (2) Características: Configuración de accesorios de reconocimiento automático de código QR, condiciones de prueba óptimas guiadas por software; Programa de calibración completamente automático para reducir errores de operación humana. (3) Aplicación: Cambio de accesorios complejos (como modo de alta temperatura + AXS), operación fácil para principiantes. El diseño de accesorios de los difractómetros de rayos X modernos prioriza la modularidad, la inteligencia y la automatización. Mediante la colaboración entre software y hardware, es posible cambiar rápidamente los accesorios, optimizar los parámetros y estandarizar los datos. Las tendencias futuras incluyen capacidades de análisis de microáreas de mayor precisión, soluciones integradas para pruebas dinámicas in situ y sistemas inteligentes de gestión de accesorios basados en inteligencia artificial.
La platina de muestra multifuncional es un equipo experimental altamente integrado que se utiliza principalmente en los campos de la ciencia de los materiales, la fabricación de semiconductores, el análisis de microscopía electrónica, etc. Sus características principales son el diseño modular, la integración multifuncional y el control de alta precisión. Más, Las funciones principales y características estructurales de la etapa de muestra multifuncional 1. Diseño modular de platina de muestra multifuncional: Se logran múltiples funciones a través de diferentes combinaciones de módulos, como el módulo de acoplamiento de rotación automática (velocidad de 0 a 20 revoluciones por minuto, con límite cero), el módulo de elevación (carrera estándar de 50 mm/100 mm, personalizable), el módulo de calentamiento (temperatura máxima de hasta 1100 ℃), etc. Admite conexión de fuente de alimentación CC/RF para satisfacer las necesidades de crecimiento de película delgada, limpieza de muestras o formación de película auxiliar. 2. Control de alta precisión y sensores para platina de muestra multifuncional: Equipado con sensores de temperatura, presión y otros, monitoreo en tiempo real de los parámetros ambientales de la muestra y ajuste de calefacción, enfriamiento y otras operaciones a través del sistema de control. Algunos modelos integran módulos deflectores neumáticos para una fácil operación. 3. Compatibilidad y adaptabilidad de la platina de muestra multifuncional: Adecuado para probar muestras irregulares, como polvos traza, materiales en láminas y muestras de gran tamaño, evitando el daño causado por el corte o pulido tradicionales. Admite tamaños de muestra inferiores a 6 pulgadas e interfaces de brida personalizables. Más, Campos de aplicación del soporte de muestra multifuncional 1. Tecnología de película delgada para etapa de muestra multifuncional: se utiliza para tecnologías avanzadas de crecimiento de película delgada como MBE (epitaxia de haz molecular), PLD (deposición láser pulsada), pulverización catódica por magnetrón, así como recocido de sustrato, desgasificación a alta temperatura y otros procesos. 2. Análisis de microscopía electrónica de platina de muestra multifuncional: Microscopio electrónico de barrido de campo frío: Fije la muestra con tornillos largos y ajuste la conductividad con arandelas de latón compatibles. Sistema TEM/FIB: integra delaminación in situ, pruebas con nanosonda y análisis TEM para evitar la contaminación o daños causados por la transferencia de muestras. 3. Análisis de fallas de la etapa de muestra multifuncional: integración de procesos de análisis, pruebas eléctricas y de extracción de sitios atómicos en sistemas FIB y TEM para mejorar la tasa de éxito y la eficiencia. Más, Ventajas técnicas de la platina de muestra multifuncional 1. Integración y automatización de la platina de muestra multifuncional: reduce la complejidad de la operación manual a través del diseño modular, admite el movimiento general y el posicionamiento preciso en el entorno de vacío. 2. Alta confiabilidad de la etapa de muestra multifuncional: uso de interfaces de brida estándar (como CF50/CF40) para garantizar el sellado y la compatibilidad. 3. Personalización de la mesa de muestra multifuncional: el material de calentamiento, la longitud de la carrera y el tipo de soporte de muestra (como tipo de bayoneta de 3 mordazas, tipo de horquilla inferior) se pueden seleccionar según las necesidades. En general, la platina de muestra multifuncional es un equipo clave para la investigación y el microanálisis de materiales, comúnmente utilizado en instrumentos de difracción de rayos X. Su valor reside en su integración funcional, flexibilidad operativa y adaptabilidad a requisitos experimentales complejos. La selección específica debe ajustarse a los módulos y parámetros de rendimiento correspondientes según los escenarios de aplicación reales (como tecnología de película delgada, análisis de microscopía electrónica o análisis de fallos).
El accesorio de medición integrado multifuncional se utiliza para analizar películas en placas, bloques y sustratos, y puede realizar pruebas como detección de fase cristalina, orientación, textura, tensión y estructura en el plano de películas delgadas. Características funcionales de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Realizar pruebas de diagrama polar utilizando métodos de transmisión o reflexión; Las pruebas de estrés se pueden realizar utilizando el método de inclinación paralela o el mismo método de inclinación; Prueba de película delgada (rotación de muestras en el plano) Áreas de aplicación de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Evaluación de estructuras de ensamblajes metálicos tales como placas laminadas; Evaluación de la orientación cerámica; Evaluación de la orientación prioritaria del cristal en muestras de película delgada; Ensayos de tensión residual de diversos materiales metálicos y cerámicos (evaluación de resistencia al desgaste, resistencia al corte, etc.); Pruebas de tensión residual de películas multicapa (evaluación del desprendimiento de películas, etc.); Análisis de oxidación superficial y películas de nitruro en materiales superconductores de alta temperatura como películas delgadas y placas metálicas; Vidrio Si, Análisis de películas multicapa sobre sustratos metálicos (películas delgadas magnéticas, películas de endurecimiento de superficies metálicas, etc.); Análisis de materiales de galvanoplastia como materiales macromoleculares, papel y lentes. Especificaciones técnicas de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Distancia mínima de paso del eje alfa (inclinación): 0,001 °/paso, rango dinámico: - 45°-90° Paso mínimo del eje β (rotación): 0,001°/paso, rango dinámico: 0° -360° Distancia mínima de paso en el eje z: 0,001 °/paso, rango dinámico: 0-10 mm Tamaño de la muestra: diámetro máximo de 100 mm, espesor ajustable.
En el difractómetro de rayos X, los accesorios de medición integrados multifuncionales son un componente crucial que mejora considerablemente la funcionalidad y la flexibilidad del instrumento. Se utilizan para el análisis de películas en placas, bloques y sustratos, y permiten realizar pruebas como la detección de fase cristalina, la orientación, la textura, la tensión y la estructura en el plano de películas delgadas. Descripción básica de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Definición: Es un término general para una serie de dispositivos o módulos adicionales utilizados en el difractómetro de rayos X para ampliar las funciones del instrumento, mejorar la precisión y la eficiencia de la medición. Propósito: Estos accesorios tienen como objetivo permitir que el difractómetro de rayos X satisfaga una gama más amplia de necesidades experimentales y proporcione información más completa y precisa sobre la estructura del material. Características funcionales de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Realizar pruebas de diagrama polar utilizando métodos de transmisión o reflexión; Las pruebas de estrés se pueden realizar utilizando el método de inclinación paralela o el mismo método de inclinación; Prueba de película delgada (rotación en el plano de la muestra). Características técnicas de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Alta precisión: generalmente utilizan tecnología de detección avanzada y sistemas de control para garantizar una alta precisión y repetibilidad de las mediciones. Automatización: muchos accesorios admiten operaciones automatizadas y pueden integrarse perfectamente con el host del difractómetro de rayos X para lograr una medición con un solo clic. Diseño modular: facilita a los usuarios seleccionar y combinar diferentes módulos de accesorios según sus necesidades reales. Áreas de aplicación de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Ampliamente utilizado en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química, la biología y la geología; Evaluación de estructuras de conjuntos metálicos tales como placas laminadas; Evaluación de la orientación cerámica; Evaluación de la orientación prioritaria del cristal en muestras de película delgada; Ensayos de tensión residual de diversos materiales metálicos y cerámicos (evaluación de resistencia al desgaste, resistencia al corte, etc.); Pruebas de tensión residual de películas multicapa (evaluación del desprendimiento de películas, etc.); Análisis de oxidación superficial y películas de nitruro en materiales superconductores de alta temperatura como películas delgadas y placas metálicas; Vidrio Si, Análisis de películas multicapa sobre sustratos metálicos (películas delgadas magnéticas, películas de endurecimiento de superficies metálicas, etc.); Análisis de materiales de galvanoplastia como materiales macromoleculares, papel y lentes. Los accesorios de medición multifuncionales integrados en el difractómetro de rayos X son clave para mejorar el rendimiento del instrumento. No solo mejoran su funcionalidad, sino que también mejoran la precisión y la eficiencia de la medición, proporcionando a los investigadores métodos de análisis de materiales más completos y profundos. Con el continuo avance tecnológico, estos accesorios seguirán desempeñando un papel importante en el fomento de la investigación científica en campos relacionados para lograr nuevos avances.
El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de instrumento que puede medir múltiples parámetros. Es un accesorio de medición para difractómetros de rayos X, que se utiliza principalmente para mejorar la eficiencia de la medición, aumentar las funciones de medición y mejorar el mantenimiento del instrumento. Se utiliza para el análisis y la prueba de diversos materiales en campos como la ingeniería química, la maquinaria, la geología, los minerales, la metalurgia, los materiales de construcción, la cerámica, la petroquímica, los productos farmacéuticos, etc. Los accesorios de medición integrados multifuncionales desempeñan un papel importante en varios campos, proporcionando un fuerte apoyo a la investigación científica y la producción industrial.
Los accesorios de medición integrados multifuncionales se utilizan para analizar películas sobre placas, bloques y sustratos, y pueden realizar pruebas como detección de fase cristalina, orientación, textura, tensión y estructura en el plano de películas delgadas. Los accesorios de medición integrados multifuncionales suelen estar diseñados para mejorar la funcionalidad del difractómetro de rayos X, lo que les permite adaptarse a necesidades de prueba más diversas. Existe una estrecha relación entre los accesorios de medición integrados multifuncionales y el difractómetro de rayos X. Estos accesorios no solo mejoran la funcionalidad y el rendimiento del difractómetro de rayos X, sino que también mejoran su facilidad de operación y seguridad. En aplicaciones prácticas, los usuarios pueden elegir los accesorios adecuados según sus necesidades específicas para ampliar los escenarios de aplicación del difractómetro de rayos X y mejorar la eficiencia de la medición.
El goniómetro es el corazón del difractómetro de rayos X, y el difractómetro de rayos X de la serie TD tiene una precisión de medición extremadamente alta.
El goniómetro es el corazón del difractómetro de rayos X, y el difractómetro de rayos X de la serie TD tiene una precisión de medición extremadamente alta.