Aplicación de la inspección por rayos X en la industria de semiconductores.

La prueba de rayos X es un método de prueba no destructivo que no daña el objeto en sí y se ha utilizado ampliamente en pruebas de materiales (QC), análisis de fallas (FA), control de calidad (QC), garantía de calidad y confiabilidad (QA/ Control de calidad), investigación y desarrollo (I+D) y otros campos.

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