En los campos de la ciencia de materiales y la inspección industrial, el análisis de difracción de rayos X, altamente eficiente y preciso, siempre ha sido fundamental para los avances científicos y el control de calidad. El difractómetro de rayos X de la serie TD-3700 redefine los límites de rendimiento de los equipos de difracción con múltiples tecnologías innovadoras, ofreciendo una solución eficiente sin precedentes para la investigación académica, la I+D corporativa y las aplicaciones de control de calidad. La sinergia de múltiples detectores marca el comienzo de una nueva era de análisis de alta velocidad La serie TD-3700 supera las limitaciones de los detectores tradicionales al ofrecer diversas opciones, incluyendo detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales y detectores SDD. En comparación con los detectores de centelleo o proporcionales convencionales, multiplica por diez la intensidad de la señal de difracción, capturando patrones de difracción de alta sensibilidad y resolución en ciclos de muestreo extremadamente cortos y mejorando significativamente la eficiencia de la salida de datos. Junto con la tecnología híbrida de conteo de fotones, los detectores funcionan sin ruido, suprimen eficazmente el fondo de fluorescencia y demuestran una excelente resolución energética y relación señal-ruido, lo que los hace especialmente adecuados para analizar muestras complejas y trazas. Los modos duales de difracción/transmisión amplían los límites de la aplicación El instrumento no solo admite el escaneo por difracción convencional, sino que también introduce de forma innovadora un modo de transmisión. Este modo ofrece una resolución significativamente mayor que el modo de difracción, lo que lo hace especialmente adecuado para aplicaciones de alta gama como el análisis de la estructura cristalina y la investigación de nanomateriales. Por otro lado, el modo de difracción, con su altísima estabilidad de señal, es ideal para la identificación rutinaria de fases. Otra gran ventaja del modo de transmisión es su compatibilidad con el análisis de muestras traza, lo que facilita enormemente la preparación de muestras y la disponibilidad limitada de las mismas. Esto abre nuevas posibilidades para el desarrollo farmacéutico, el análisis geológico, la identificación del patrimonio cultural y otros campos. Diseño modular e inteligente para una plataforma experimental confiable y fácil de usar El TD-3700 adopta un diseño de hardware modular donde todos los componentes son fáciles de conectar y usar sin necesidad de calibración, lo que reduce significativamente los costos de mantenimiento y la tasa de fallos. Su sistema de adquisición con un solo clic y su software personalizado mejoran enormemente la comodidad operativa, permitiendo que incluso los usuarios no especializados puedan comenzar a usarlo rápidamente. Una interfaz táctil permite monitorear el estado del instrumento en tiempo real, mostrando el progreso experimental de un vistazo. La seguridad también es absoluta: un dispositivo electrónico de bloqueo de puerta ofrece doble protección, mientras que un generador de rayos X de alta frecuencia y alto voltaje garantiza un rendimiento estable y fiable. En combinación con una unidad de control antiinterferencias, mantiene la fiabilidad operativa a largo plazo y garantiza la seguridad del usuario. Nacido para la era: un referente en tecnología de difracción orientado al futuro El difractómetro de rayos X de la serie TD-3700 integra análisis rápido, operación inteligente y seguridad integral. No solo hereda la estabilidad de la serie TD-3500, sino que también logra avances en tecnología de detectores, flexibilidad de aplicación e integración de sistemas. Su desarrollo satisface ampliamente las necesidades de los laboratorios modernos de análisis de muestras de alto rendimiento, alta precisión y diversidad, lo que lo convierte en una herramienta indispensable para la caracterización de materiales, el análisis químico, la investigación farmacéutica y la académica.

Avance en instrumentos científicos: el difractómetro de rayos X TD-3700 de Dandong Tongda impulsa la innovación en investigación. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. es una empresa de alta tecnología especializada en la investigación, el desarrollo y la producción de instrumentos de análisis de rayos X. Su producto estrella, el difractómetro de rayos X TD-3700, integra análisis rápido, un manejo intuitivo y sólidas funciones de seguridad. La perfecta sinergia entre su hardware modular y sus sistemas de software personalizados lo convierte en una potente herramienta para campos de investigación como la ciencia de los materiales, la química y la mineralogía. El difractómetro de rayos X TD-3700 presenta importantes ventajas tanto en la tecnología de detección como en los modos de medición, lo que le permite satisfacer una amplia gama de necesidades analíticas. Tecnología central y rendimiento Detectores de alto rendimiento: El instrumento puede equiparse con detectores de matriz 1D de alta velocidad opcionales (p. ej., MYTHEN2R), detectores SDD o detectores 2D. Gracias a la tecnología híbrida de conteo de fotones, funciona sin ruido de lectura, alcanza velocidades de adquisición de datos de decenas a cientos de veces más rápidas que los detectores de centelleo tradicionales y elimina eficazmente los efectos de fluorescencia para lograr una excelente resolución energética. Por ejemplo, el detector de matriz 1D cuenta con 640 canales con un tiempo de lectura excepcionalmente corto de tan solo 89 microsegundos, lo que contribuye a una excelente relación señal-ruido. Modos de escaneo flexibles: El difractómetro de rayos X TD-3700 admite dos métodos principales de escaneo de datos: el modo de reflexión (difracción) convencional y el modo de transmisión. El modo de transmisión proporciona una mayor resolución, lo que lo hace ideal para analizar muestras limitadas o realizar análisis estructurales. El modo de reflexión ofrece una señal más potente, más apropiada para la identificación rutinaria de fases en entornos de laboratorio. Esta flexibilidad permite al instrumento procesar una amplia variedad de tipos de muestras, desde trazas de polvo y sólidos a granel hasta incluso líquidos y muestras viscosas. Sistema de Goniómetro de Precisión: Utiliza un goniómetro vertical θS-θd donde la muestra permanece horizontal y estacionaria durante la medición. Este diseño no solo facilita la preparación de la muestra, sino que también ayuda a prevenir la posible corrosión del sistema de ejes del goniómetro por las muestras, prolongando así su vida útil. Con un amplio rango de escaneo 2θ (-110° a 161°) y una excepcional precisión repetitiva de 0,0001°, garantiza mediciones altamente precisas y repetibles. Características del instrumento y garantía de seguridad El difractómetro de rayos X TD-3700 está diseñado con un fuerte énfasis en la experiencia del usuario y la seguridad operativa. Diseño fácil de usar: Operación sin esfuerzo: cuenta con un sistema de adquisición de un solo clic e incorpora una interfaz de pantalla táctil para monitoreo en tiempo real del estado del instrumento. Diseño modular: los componentes están diseñados para una funcionalidad plug-and-play, sin necesidad de calibración y garantizando un mantenimiento sencillo. Protección de seguridad integral: Incorpora un sistema de enclavamiento electrónico de puerta principal para protección de doble capa, garantizando la seguridad del usuario. La fuga de radiación externa del sistema de protección es ≤ 0,1 μSv/h, cumpliendo con estrictos estándares internacionales de seguridad. Incluye múltiples funciones de protección contra kV excesivamente alto/bajo, mA excesivamente alto/bajo, falla del flujo de agua y sobrecalentamiento del tubo de rayos X. Sistema estable y confiable: Utiliza un generador de rayos X de alta frecuencia y alto voltaje, reconocido por su rendimiento estable y confiable, con una estabilidad del sistema ≤ 0,005 %. El enfriador de recirculación integrado cuenta con una función de enfriamiento integrada, lo que elimina la necesidad de una unidad externa de circulación de agua. Aplicaciones y reconocimiento global El difractómetro de rayos X TD-3700 se utiliza ampliamente para análisis de fase cualitativo/cuantitativo, análisis de estructura cristalina, investigación de estructura de materiales, determinación del tamaño de grano y medición de cristalinidad. Reconocida por su confiable calidad, los productos de Dandong Tongda se han exportado a numerosos países y regiones, como Estados Unidos, Corea del Sur, Irán, Azerbaiyán, Irak y Jordania, lo que les ha valido el reconocimiento internacional. La empresa también ha obtenido la certificación ISO 9001 y otras certificaciones internacionales de sistemas de gestión de calidad. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. ofrece a sus clientes un servicio y soporte integrales, que incluyen servicio posventa, capacitación profesional y apoyo comercial internacional. Agradecemos sus consultas y esperamos su compra.

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