El accesorio de medición integrado multifuncional del difractómetro de rayos X (DRX) es un componente clave para el análisis multiescena y multiescala. Gracias a su diseño modular, satisface las necesidades de difracción de polvo, dispersión angular pequeña, análisis de tensiones residuales, ensayos in situ, etc. A continuación, se presentan los accesorios de medición integrados multifuncionales más comunes y sus funciones principales: 1. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de control de temperatura y ambiente. (1) Función: Admite pruebas de muestras bajo control de alta temperatura, baja temperatura y humedad, y se utiliza para estudiar los cambios en la estructura cristalina de los materiales en diferentes condiciones de temperatura o humedad. (2) Características: Rango de temperatura: desde temperatura ambiente hasta 1500 ℃; Control automático de temperatura y regulación de humedad, adecuado para catálisis in situ, análisis de cambio de fase y otros experimentos. (3) Aplicación: Transición de fase de materiales metálicos, análisis de la cristalinidad de polímeros, investigación sobre la estabilidad térmica de materiales inorgánicos. 2. Muestreador automático y platina de muestra para accesorios de medición integrados multifuncionales (1) Función: Implementa el cambio automático y el posicionamiento preciso de múltiples muestras para mejorar la eficiencia de la prueba. (2) Características: Accesorios de apoyo como mesas de rotación de muestras y mesas de microdifracción para pruebas direccionales de muestras complejas; Colabore con software inteligente para optimizar los parámetros de medición e identificar automáticamente las configuraciones de muestra. (3) Aplicación: Pruebas de muestras por lotes, análisis de películas delgadas o microáreas. 3. Accesorios de medición integrados multifuncionales adecuados para detectores bidimensionales y detectores unidimensionales de alta velocidad (1) Función: Admite la recopilación de datos multidimensionales para mejorar la capacidad de análisis de muestras complejas. (2) Características: Detector unidimensional de alta velocidad, adecuado para difracción de polvo convencional; Detector de matriz de semiconductores bidimensional que puede cambiar entre modos de dimensión cero, unidimensional o bidimensional, ampliando las capacidades de prueba in situ dinámicas o de área micro. (3) Aplicación: Análisis de orientación de cristales de materiales 2D, monitoreo dinámico de reacciones in situ. 4. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de difracción de microárea y tensión residual. (1) Función: Realizar pruebas direccionales en la distribución de tensión o en pequeñas áreas de la superficie de los materiales. (2) Características: Combina el sistema óptico θ/θ con una fuente de rayos X de microfoco para lograr una microdifracción de nivel submilimétrico; medición no destructiva, utilizada para el análisis de tensión de piezas de metal y dispositivos semiconductores. (3) Aplicación: Pruebas de fatiga de componentes aeroespaciales, caracterización de tensiones de películas delgadas de semiconductores. 5. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de control de automatización y calibración inteligente. (1) Función: Garantizar la precisión y consistencia de las pruebas mediante el reconocimiento de componentes y la tecnología de calibración automática. (2) Características: Configuración de accesorios de reconocimiento automático de código QR, condiciones de prueba óptimas guiadas por software; Programa de calibración completamente automático para reducir errores de operación humana. (3) Aplicación: Cambio de accesorios complejos (como modo de alta temperatura + AXS), operación fácil para principiantes. El diseño de accesorios de los difractómetros de rayos X modernos prioriza la modularidad, la inteligencia y la automatización. Mediante la colaboración entre software y hardware, es posible cambiar rápidamente los accesorios, optimizar los parámetros y estandarizar los datos. Las tendencias futuras incluyen capacidades de análisis de microáreas de mayor precisión, soluciones integradas para pruebas dinámicas in situ y sistemas inteligentes de gestión de accesorios basados ​​en inteligencia artificial.

Los accesorios de medición integrados multifuncionales se utilizan para analizar películas sobre placas, bloques y sustratos, y pueden realizar pruebas como detección de fase cristalina, orientación, textura, tensión y estructura en el plano de películas delgadas. Los accesorios de medición integrados multifuncionales suelen estar diseñados para mejorar la funcionalidad del difractómetro de rayos X, lo que les permite adaptarse a necesidades de prueba más diversas. Existe una estrecha relación entre los accesorios de medición integrados multifuncionales y el difractómetro de rayos X. Estos accesorios no solo mejoran la funcionalidad y el rendimiento del difractómetro de rayos X, sino que también mejoran su facilidad de operación y seguridad. En aplicaciones prácticas, los usuarios pueden elegir los accesorios adecuados según sus necesidades específicas para ampliar los escenarios de aplicación del difractómetro de rayos X y mejorar la eficiencia de la medición.

El goniómetro es el corazón del difractómetro de rayos X, y el difractómetro de rayos X de la serie TD tiene una precisión de medición extremadamente alta.