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XAFS, como técnica de caracterización avanzada para el análisis de la estructura local de materiales, puede proporcionar información de coordinación de la estructura atómica más precisa en el rango estructural de corto alcance que la difracción de cristales de rayos X.
La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una poderosa herramienta para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales basada en una fuente de luz de radiación sincrotrón.
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La espectroscopia de difracción de rayos X analiza principalmente el estado del cristal y la microestructura de los materiales, y existen dos métodos de medición de difracción de rayos X para el análisis de cristales.
El instrumento de orientación automática de rayos X es un instrumento indispensable para el procesamiento de precisión y la fabricación de dispositivos de cristal. Es ampliamente utilizado en la investigación, procesamiento y fabricación de materiales cristalinos.
La composición del patrón de difracción es principalmente la posición y la intensidad del pico de difracción, y nuestro análisis del patrón XRD se basa en los cambios en la intensidad y la posición para explicar los cambios en el micro y macro del material.
Un difractómetro de rayos X es un instrumento de precisión que se utiliza para estudiar la estructura cristalina, la morfología y las propiedades de la materia. Durante el proceso de embalaje y transporte, se deben tomar ciertas medidas para garantizar que la seguridad y el rendimiento del instrumento no se vean afectados.
Como uno de los medios importantes de caracterización de la estructura de materiales, la XRD se utiliza ampliamente en materiales, física, química, medicina y otros campos.
El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, análisis de orientación cristalina de muestras de polvo, bloques o películas delgadas, etc.