news

Tomando como ejemplo el escalamiento de la deposición, este artículo presenta cómo utilizar el difractómetro de rayos X para el análisis cuantitativo y de fase cualitativa.

La fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF) es una técnica de análisis de elementos superficiales comúnmente utilizada para analizar partículas, residuos e impurezas en superficies lisas.

La difracción de rayos X (XRD) es actualmente un método poderoso para estudiar la estructura cristalina (como el tipo y la distribución de ubicación de átomos o iones y sus grupos, la forma y el tamaño de las células, etc.).

Este procedimiento es un procedimiento de desarrollo propio. Contiene una variedad de funciones de análisis cuantitativo desarrolladas por nosotros mismos, que están de acuerdo con la teoría de la difracción y se calculan por intensidad integral.

Este artículo comparte principalmente algunos temas relevantes sobre el "análisis del software JADE y el procesamiento de datos XRD".

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructuras cristalinas, análisis de estructuras de materiales, análisis de orientación de cristales de muestras de polvo, bloques o películas delgadas.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. como una empresa pionera en la industria nacional, desde su creación con un equipo profesional, espíritu profesional para ofrecer a los clientes productos avanzados y servicios de calidad.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. enfatiza el concepto de servicio al cliente de "las necesidades del cliente como punto de partida" y fortalece el sistema de servicio al cliente. Nuestros servicios, desde la planificación, el diseño hasta la implementación, brindan servicios sistemáticos, razonables y efectivos de extremo a extremo para ayudar a los usuarios a dominar nuevos productos, nuevas tecnologías y mejorar integralmente el valor de uso real de los productos.

La difracción de rayos X (XRD) es un método importante para estudiar la fase y la estructura cristalina de una sustancia. Cuando una sustancia (cristalina o no cristalina) se analiza por difracción, la sustancia se irradia con rayos X para producir diferentes grados de fenómeno de difracción, la composición del material, el tipo de cristal, el modo de enlace intramolecular, la configuración molecular, la conformación y otras características del material determinan el patrón de difracción específico de la sustancia.