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+86-415-6123805La difracción de rayos X (DRX) permite el análisis de fases no destructivo, la cuantificación de la cristalinidad y la medición de tensiones residuales en cemento, metales, productos químicos, semiconductores y productos farmacéuticos. Facilita el control de calidad integral, reduciendo los defectos y garantizando el cumplimiento normativo. Existen sistemas de sobremesa y de alta resolución disponibles para su uso en producción o laboratorio.
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El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructuras cristalinas, análisis de estructuras de materiales, análisis de orientación de cristales de muestras de polvo, bloques o películas delgadas.
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