Analizador de orientación de rayos X
1.La mesa de muestra está equipada con una pista de carga que puede medir hasta 1 kg y tiene un diámetro de 6 pulgadas (hasta 8 pulgadas).
2. Se instala un dispositivo de ventosa al vacío en la mesa de muestras.
3. Aplicación: Determinación rápida y precisa del ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales.
- Tongda
- Liaoning, China
- 1—2 meses
- 100 unidades por año
- información
Introducción al analizador de orientación de rayos X:
El instrumento automático de orientación de rayos X utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar con precisión y rapidez el ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales (cristales piezoeléctricos, cristales ópticos, cristales láser, cristales semiconductores). A juego con la máquina cortadora, que se puede utilizar para el corte direccional de los cristales anteriores.Instrumento automático de orientación de rayos X.Es un instrumento indispensable para el procesamiento de precisión y la fabricación de dispositivos de cristal.Instrumento automático de orientación de rayos X.Se utiliza ampliamente en la investigación, procesamiento y fabricación de materiales cristalinos.
Ventajas del analizador de orientación de rayos X:
Tabla de muestra TA del analizador de orientación de rayos X:
Diseñado de acuerdo con el cristal de barra redonda, el escenario de muestra tiene una pista de carga, que puede medir de 1 a 30 kg, 2 a 6 pulgadas de diámetro (se puede aumentar a 8 pulgadas) y un dispositivo de succión de vacío en el escenario de muestra. . Este tipo de goniómetro mide la superficie de referencia de un cristal en forma de varilla y también mide la superficie de una oblea.
Tabla de muestra de TB del analizador de orientación de rayos X:
Diseñado según el cristal de barra redonda, el escenario de muestra está equipado con una pista de carga y está equipado con un riel de soporte en forma de V. Puede medir un lingote con un peso de 1 a 30 kg, un diámetro de 2 a 6 pulgadas (se puede aumentar a 8 pulgadas) y una longitud de 500 mm. Se adjunta un dispositivo de succión de vacío a la etapa de muestra. Este tipo de goniómetro mide la cara final del cristal de varilla y también mide la superficie de la oblea.
Tabla de muestra de TC del analizador de orientación de rayos X:
Se utiliza principalmente para la detección de la superficie de referencia circular exterior de obleas individuales como las de silicio y zafiro. La posición del receptor de rayos X en el disco de succión adopta un diseño abierto, lo que supera el problema de que el disco de succión bloquee los rayos X y la desalineación, y satisface diferentes especificaciones. Con la detección del borde de referencia, la bomba de succión de la etapa de muestra puede aspirar la oblea de 2 a 8 pulgadas para que la detección sea más precisa.
Tabla de muestra del TD del analizador de orientación de rayos X:
Se utiliza principalmente para mediciones multipunto de obleas como silicio y zafiro. La oblea se puede girar manualmente en la etapa de muestra, como 0°, 90°, 180°, 270°, etc., para satisfacer las necesidades especiales de medición de los clientes.
Canal Tongda
Tongda ha abierto oficialmente su canal en youtube, puedes consultar el vídeo recién subido para conocer mejor a Tongda y dejar tus comentarios así como lo que quieres ver en el siguiente clip.
Tongda cuenta con un sólido equipo de investigación y desarrollo para brindar soluciones técnicas integrales para aplicaciones de difracción de rayos X.
