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Difractómetro de rayos X TD-3700

1. Polvo de salida máxima: 3kW
2. Tipo de detector: detector de matriz o detector SDD
3.Disponible con una variedad de accesorios para difractómetros.
4.Patrón de trabajo: cálculo de control automático de PLC, conversión de método de integración, PLC realiza automáticamente PHA, corrección de tiempo muerto
5.Tipo de medición de muestra: muestra de polvo, muestras líquidas, muestras en estado fundido, muestras viscosas, polvos sueltos, muestras sólidas a granel

  • Tongda
  • Liaoning
  • 1—2 meses
  • 100 unidades por año
  • información

Difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 (xrd)

El difractómetro de rayos X en polvo de alta resolución TD-3700 es un nuevo miembro de la serie TD. Equipado con un detector de matriz unidimensional de alta velocidad (MYTHEN2R) o detector SDD, combina análisis rápido, facilidad de operación y seguridad para el usuario. La arquitectura de hardware modular y los sistemas de software personalizados logran la combinación perfecta. Con derechos de propiedad intelectual independientes y patente de invención nacional, la tecnología de control del controlador lógico programable (PLC) hace que su tasa de falla sea extremadamente baja y buena antiinterferencia, para garantizar un funcionamiento estable a largo plazo del suministro de energía de alto voltaje.    


Nacido del tiempo

 xrdx-ray diffractometer

herencia

El difractómetro de rayos X en polvo (XRD) de alta resolución TD-3700 tiene todas las ventajas del difractómetro de rayos X (XRD) TD-3500 y está equipado con un detector de matriz de alto rendimiento. En comparación con el detector de centelleo o el detector proporcional, la intensidad del cálculo de difracción se puede aumentar más de decenas de veces y se puede obtener una alta sensibilidad y alta resolución completas en un período de muestreo más corto.             

 

Nuevas características de XRD

El difractómetro de rayos X (DRX) de alta resolución TD-3700 puede admitir el modo de escaneo de fecha de transmisión además del modo de escaneo de fecha de difracción convencional. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que es adecuado para el análisis estructural y otros campos. El modo de difracción tiene una señal de difracción fuerte y es más adecuado para la identificación de fases en laboratorio. Además, en el modo de transmisión, la muestra de polvo puede ser micro, adecuada para la adquisición de fechas cuando la cantidad de muestra es relativamente pequeña y los equipos de preparación de muestras del modo de difracción no se satisfacen.

                                

Detector unidimensional de alta resolución

El detector de matriz unidimensional hace pleno uso de la tecnología de conteo de fotografías mixtas, sin ruido, adquisición rápida de datos, más de diez veces más rápido que el detector de centelleo, excelente resolución de energía y puede eliminar eficazmente el efecto de fluorescencia. El detector de 640 canales tiene un tiempo de lectura rápido, lo que resulta en una mejor relación señal-ruido. El sistema de control del detector con puerta electrónica y disparador externo puede completar efectivamente la sincronización del sistema.







                Pantalla de espectro de análisis de muestras de difractómetro de rayos X (xrd) de alta resolución TD-3700


X-ray powder diffractometer


xrd




En la reunión, Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. mostró a los usuarios nuestros logros en el campo de difractómetro de rayos X, lo que atrajo la atención de muchos trabajadores y compañeros de trabajo de la industria. Muchos participantes vinieron a nuestro stand para comprender la configuración y el rendimiento de los productos relacionados y afirmaron la difractómetro Productos de la serie desarrollados por nuestra empresa.y.

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