fondo

Un difractómetro de rayos X 2D

Ventajas:
Profundidad de penetración de rayos X continuamente ajustable
Capacidad de observar la distribución de planos cristalinos con diferentes orientaciones.
Análisis de la distribución de la orientación en muestras como fibras, películas delgadas y polvos.
Examen de características estructurales como la distorsión reticular y el tamaño de los cristalitos.

  • Tongda
  • Liaoning, China
  • 1—2 meses
  • 100 unidades por año
  • información

Dandong, China En los campos en constante evolución de la ciencia de los materiales, la ingeniería química y la I+D de semiconductores, el análisis profundo de las microestructuras se ha vuelto crucial para impulsar la innovación tecnológica. Para satisfacer la creciente demanda global de herramientas analíticas eficientes y precisas en la industria y la investigación,Dandong Tongda Ciencia y Tecnología Co., Ltd. presenta con orgullo su producto tecnológico principal: el Difractómetro de rayos X 2D de nueva generación (2D-XRD)Este instrumento no solo conserva las funcionalidades clásicas del XRD tradicional, sino que, gracias a su exclusiva tecnología de detección 2D, abre una nueva era de análisis panorámico y profundo de materiales para usuarios de múltiples industrias.

2D x-ray diffractometer

Más allá de las limitaciones de la 1D: Desbloqueo de las dimensiones de la información panorámica

A diferencia del XRD 1D tradicional, que proporciona solo un patrón de difracción lineal, el difractómetro de rayos X 2D de Dandong Tongda Technology está equipado con un detector de área 2D de alto rendimiento capaz de capturar instantáneamente un patrón de difracción completo. patrones de difracción bidimensionales. Esto significa un solo, sLa exposición simple recopila una gran cantidad de información estructural espacial. Al procesar, analizar e interpretar estos valiosos datos 2D, los investigadores obtienen información mucho más profunda que nunca.

Ventajas de las aplicaciones principales que potencian la I+D multidisciplinaria

Capacidad excepcional de penetración y perfilado de profundidad:El instrumento presenta la capacidad única de Profundidad de penetración de rayos X continuamente ajustable, lo que permite el análisis no destructivo de perfiles de profundidad. Ya sea analizando recubrimientos, películas delgadas multicapa o regiones cercanas a la superficie de materiales a granel, los usuarios pueden obtener fácilmente información estructural a diferentes profundidades, lo que proporcionaComodidad sin precedentes para la optimización de procesos y el análisis de fallos.

Conocimiento preciso de la microestructura y la orientación:Esta solución tecnológica aborda eficazmente los puntos ciegos de los métodos tradicionales en el análisis de orientación. Permite una visualización intuitiva y clara. Observación de la distribución de planos cristalinos con diferentes orientaciones y analiza con precisión la Distribución de la orientación macro y micro (textura) de varias muestras Como fibras, películas delgadas y polvos. Esto es vital para mejorar las propiedades mecánicas de los materiales poliméricos y optimizar las características fotoeléctricas de las células solares de película delgada.

Análisis estructural a nanoescala en profundidad:Más allá de la identificación de macrofases y la medición de la cristalinidad, este instrumento puede analizar con precisión características estructurales clave como Deformación reticular y tamaño de los cristalitosEsto proporciona un potente soporte de datos para el desarrollo de aleaciones de alto rendimiento, nuevos catalizadores y materiales nanofuncionales, facilitando la transición de nuevos materiales del laboratorio a la industria.

Alto rendimiento y capacidad de estudio dinámico: La tecnología de detección 2D permite la recopilación rápida de datos, lo que aumenta la eficiencia del análisis en órdenes de magnitud. Esto es adecuado no solo para la inspección de calidad rutinaria de alto rendimiento, sino también para la perfección.ct para experimentos in situ, como el seguimientotransiciones de fase g y evolución estructural en tiempo real durante procesos de calentamiento, enfriamiento o tracción, capturando cada fotograma clave de los procesos dinámicos.

Dandong Tongda Ciencia y Tecnología Co., Ltd.  Nos comprometemos a transformar la tecnología avanzada de DRX 2D en una herramienta potente y práctica para nuestros usuarios. Nuestro objetivo es brindar una ventana a los ingenieros y científicos de I+D de todo el mundo, permitiéndoles obtener una visión más clara y tridimensional del mundo microscópico del material, acelerando así su ritmo de innovación.

x-ray diffractometer

El lanzamiento de este difractómetro de rayos X 2D sin duda muestra la fortaleza técnica concentrada de Dandong Tongda Technology en el campo de los instrumentos científicos de alta gama y está preparado para crear un valor excepcional para los clientes a nivel mundial en productos farmacéuticos, nuevas energías, semiconductores, exploración geológica, fabricación avanzada y más allá.

diffractometer

Acerca deDandong Tongda Ciencia y Tecnología Co., Ltd. 

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es una empresa de alta tecnología especializada en I+D, fabricación y servicios técnicos de instrumentos analíticos de rayos X de alta gama. La empresa se basa constantemente en la innovación tecnológica y se dedica a brindar a sus clientes globales de la industria y la investigación soluciones de análisis de materiales precisas y fiables, además de un servicio posventa integral.

2D x-ray diffractometer


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