Difractómetro de rayos X bidimensional

Dandong, China En los campos de rápida evolución de la ciencia de los materiales, la ingeniería química y la I+D de semiconductores, el análisis exhaustivo de las microestructuras se ha vuelto crucial para impulsar la innovación tecnológica. Para satisfacer la creciente demanda mundial de herramientas analíticas eficientes y precisas en la industria y la investigación,Dandong Tongda Ciencia y Tecnología Co., Ltd. presenta con orgullo su producto tecnológico principal: el Difractómetro de rayos X bidimensional de nueva generación (2D-XRD)Este instrumento no solo conserva las funcionalidades clásicas de la difracción de rayos X tradicional, sino que, gracias a su exclusiva tecnología de detección 2D, abre una nueva era de análisis de materiales panorámico y en profundidad para usuarios de múltiples industrias.

Superando las limitaciones de la 1D: Desbloqueando las dimensiones de la información panorámica

A diferencia de la difracción de rayos X unidimensional tradicional, que solo proporciona un patrón de difracción lineal, el difractómetro de rayos X bidimensional de Dandong Tongda Technology está equipado con un detector de área bidimensional de alto rendimiento capaz de capturar instantáneamente el espectro completo. patrones de difracción bidimensionalesEsto significa un solo, sLa exposición simple recopila una gran cantidad de información estructural espacial. Al procesar, analizar e interpretar estos valiosos datos bidimensionales, los investigadores obtienen conocimientos mucho más profundos que nunca.

Ventajas de la aplicación principal: Impulsando la I+D multidisciplinar

Capacidad excepcional de penetración y perfilado de profundidadEl instrumento presenta la capacidad única de profundidad de penetración de rayos X ajustable de forma continua, lo que permite realizar análisis de perfiles de profundidad no destructivos. Ya sea analizando recubrimientos, películas delgadas multicapa o regiones cercanas a la superficie de materiales a granel, los usuarios pueden obtener fácilmente información estructural a diferentes profundidades, proporcionandoUna comodidad sin precedentes para la optimización de procesos y el análisis de fallos.

Información precisa sobre la microestructura y la orientaciónEsta solución tecnológica aborda eficazmente las limitaciones de los métodos tradicionales en el análisis de orientación. Permite una comprensión intuitiva y clara. observación de la distribución de planos cristalinos con diferentes orientaciones y analiza con precisión el Distribución de la orientación macro y micro (textura) de diversas muestras como fibras, películas delgadas y polvos. Esto es vital para mejorar las propiedades mecánicas de los materiales poliméricos y optimizar las características fotoeléctricas de las células solares de película delgada.

Análisis estructural a nanoescala en profundidadMás allá de la identificación de macrofases y la medición de la cristalinidad, este instrumento puede analizar con precisión características estructurales clave como: deformación de la red cristalina y tamaño del cristalitoEsto proporciona un sólido respaldo de datos para el desarrollo de aleaciones de alto rendimiento, nuevos catalizadores y materiales nanofuncionales, facilitando la transición de nuevos materiales del laboratorio a la industria.

Alto rendimiento y capacidad de estudio dinámico:La tecnología de detección 2D permite una rápida recopilación de datos, aumentando la eficiencia del análisis exponencialmente. Esto resulta adecuado no solo para la inspección de calidad rutinaria de alto rendimiento, sino también para la inspección de calidad.ct para experimentos in situ, como por ejemplo el seguimientog transiciones de fase y evolución estructural en tiempo real durante procesos de calentamiento, enfriamiento o tracción, capturando cada fotograma clave de los procesos dinámicos.

Dandong Tongda Ciencia y Tecnología Co., Ltd.  Estamos comprometidos con la transformación de la tecnología avanzada de difracción de rayos X bidimensional (2D-XRD) en una herramienta potente y práctica para nuestros usuarios. Nuestro objetivo es brindar a los ingenieros y científicos de I+D de todo el mundo una perspectiva más clara y tridimensional del mundo microscópico de los materiales, acelerando así su ritmo de innovación.

El lanzamiento de este difractómetro de rayos X 2D demuestra sin duda la sólida base técnica de Dandong Tongda Technology en el campo de los instrumentos científicos de alta gama y está preparado para crear un valor excepcional para clientes de todo el mundo en sectores como la farmacéutica, las nuevas energías, los semiconductores, la exploración geológica, la fabricación avanzada y otros.

Acerca deDandong Tongda Ciencia y Tecnología Co., Ltd. 

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es una empresa de alta tecnología especializada en la I+D, fabricación y servicios técnicos de instrumentos analíticos de rayos X de alta gama. La empresa se rige por la innovación tecnológica como su principal motor, y se dedica a proporcionar a sus clientes industriales y de investigación de todo el mundo soluciones de análisis de materiales precisas y fiables, así como un servicio posventa integral.