El sistema de irradiación de rayos X de gabinete genera rayos X de alta energía para irradiar células o animales pequeños. Se utiliza para diversas investigaciones básicas y aplicadas. En la historia, se han utilizado equipos de irradiación de isótopos radiactivos, lo que requiere transportar muestras a una instalación de irradiación central. Hoy en día, se pueden instalar dispositivos de irradiación de rayos X más pequeños, seguros, simples y de menor costo en los laboratorios para una irradiación conveniente y rápida de células. Varias muestras se pueden irradiar directamente en el laboratorio sin afectar la fertilidad o la seguridad. Este dispositivo de irradiación de rayos X biológicos es conveniente para el personal sin capacitación profesional en rayos X para su uso, y no hay costosas solicitudes de licencia ni costos de mantenimiento para la seguridad o las fuentes de radiación. El instrumento de irradiación de rayos X es fácil de operar, seguro, confiable y rentable, y puede reemplazar las fuentes de isótopos radiactivos.

El analizador de orientación de rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar la orientación de los cristales. Se utiliza ampliamente en campos como la ciencia de los materiales, la geología, la física, etc., para estudiar la estructura cristalina, los parámetros reticulares, los defectos de los cristales, etc. El principio de funcionamiento de un analizador de orientación de rayos X es irradiar un haz de rayos X monocromático sobre el cristal en prueba. Cuando los rayos X interactúan con los átomos del cristal, se produce dispersión. Según la ley de Bragg, cuando la longitud de onda de los rayos X es un múltiplo entero del espaciamiento atómico en un cristal, la luz dispersada interferirá y formará una serie de franjas brillantes y oscuras alternas, conocidas como reflexión de Bragg. Al medir los ángulos y las intensidades de estas reflexiones de Bragg, se puede calcular información como la orientación del cristal y los parámetros de la red. El analizador de orientación de rayos X generalmente incluye las siguientes partes principales: 1. Fuente de rayos X: dispositivo que produce rayos X monocromáticos, normalmente utilizando un tubo de rayos X o una fuente de radiación de sincrotrón. 2. Etapa de muestra: una plataforma utilizada para colocar el cristal a probar, que puede ajustar la posición y el ángulo del cristal. 3. Detector: se utiliza para recibir rayos X dispersos y convertirlos en señales eléctricas. Entre los detectores más comunes se encuentran los contadores de centelleo, los contadores proporcionales, etc. 4. Sistema de adquisición y procesamiento de datos: se utiliza para recopilar señales emitidas por detectores y realizar el procesamiento y análisis de datos. Generalmente incluye analizadores multicanal, computadoras y otros equipos. 5. Sistema de control: se utiliza para controlar el movimiento de la fuente de rayos X, la plataforma de muestra y el detector para lograr la medición de cristales en diferentes direcciones. Mediante el uso de un analizador de orientación de rayos X, los investigadores pueden determinar con precisión la orientación y los parámetros de red de los cristales, lo que les permite comprender mejor su estructura y sus propiedades. Esto es de gran importancia para el desarrollo de nuevos materiales, la exploración geológica, el crecimiento de cristales y otros campos.

El difractómetro de rayos X de cristal único TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; El difractómetro de rayos X de cristal único puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular del cristal, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. La XRD de cristal único se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. El difractómetro monocristalino adopta la técnica de concentricidad de cuatro círculos para garantizar que el centro del instrumento de medición de ángulos permanezca inalterado independientemente de la rotación, logrando así el objetivo de obtener los datos más precisos y una mayor integridad. La concentricidad de cuatro círculos es una condición necesaria para el escaneo monocristalino convencional. El personal técnico de la empresa ha completado la instalación y la depuración del difractómetro de rayos X de cristal único extranjero, y los resultados de las pruebas han satisfecho enormemente a los usuarios extranjeros. Al mismo tiempo, la funcionalidad, la estabilidad y el servicio posventa del instrumento han recibido elogios unánimes de los usuarios extranjeros.

El difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares a pastas. El XRD de sobremesa utiliza el principio del difractómetro de rayos X para realizar análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica. La carga de un nuevo detector de matriz de alto rendimiento ha dado lugar a una mejora significativa en el rendimiento de la difracción de rayos X de sobremesa. Los equipos XRD de sobremesa tienen un volumen pequeño y son ligeros; La potencia de trabajo de la fuente de alimentación de alto voltaje de Benchtop XRD puede alcanzar los 1600 vatios; El XRD de sobremesa puede calibrar y probar muestras rápidamente; El control del circuito XRD de sobremesa es simple y fácil de depurar e instalar; La repetibilidad del ángulo XRD de sobremesa puede alcanzar 0,0001.

El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700, con todas las ventajas del difractómetro de rayos X TD-3500, está equipado con un detector de matriz de alto rendimiento. En comparación con los detectores de centelleo o los detectores proporcionales, la intensidad del cálculo de difracción se puede aumentar varias decenas de veces y se pueden obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto. El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 admite tanto el escaneo de datos de difracción convencional como los métodos de escaneo de datos de transmisión. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que es adecuado para el análisis estructural y otros campos. El modo de difracción tiene fuertes señales de difracción y es más adecuado para la identificación de fase de rutina en el laboratorio. Además, en el modo de transmisión, la muestra de polvo puede estar en cantidades traza, lo que es adecuado para la adquisición de datos en casos en los que el tamaño de la muestra es relativamente pequeño y no cumple con los requisitos del método de difracción para la preparación de la muestra.

El difractómetro de la serie TD encarna la esencia de la investigación y el desarrollo de Tongda Technology a lo largo de los años, evolucionando con las demandas de los tiempos. El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases, análisis de la estructura cristalina, análisis de la estructura del material, análisis de la orientación de los cristales, determinación de la tensión macroscópica o microscópica, determinación del tamaño del grano, determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. El difractómetro de rayos X TD-3500 producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC Siemens importado, lo que hace que el difractómetro de rayos X TD-3500 tenga las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, ¡y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas y la investigación en varias industrias! Instrumento de medición de ángulos con estructura de eje hueco

Difractómetro monocristalino de rayos X de alta precisión diseñado específicamente para la investigación científica de materiales, el análisis de la estructura cristalina y el control de calidad industrial. Utiliza el efecto de difracción generado por la interacción entre los rayos X y los monocristales para proporcionar a los usuarios información detallada sobre la estructura cristalina midiendo con precisión los ángulos e intensidades de difracción, revelando así la microestructura y las propiedades de los materiales.

Tubos de rayos X diseñados específicamente para instrumentos analíticos: 1. Existen varios tipos de materiales objetivo: se pueden seleccionar diferentes materiales objetivo según las diferentes necesidades de análisis, como tungsteno, cobre, cobalto, hierro, cromo, molibdeno, titanio, etc. Estos materiales objetivo pueden generar rayos X con diferentes características para adaptarse al análisis de varias sustancias. 2. Tipos de enfoque enriquecido: existen varios tipos de enfoque para elegir, como el enfoque fino, que puede cumplir con los requisitos de prueba de diferentes resoluciones y precisiones. Por ejemplo, los puntos focales finos de 0,2 × 12 mm², 1 × 10 mm² o 0,4 × 14 mm² pueden ayudar a mejorar la precisión y exactitud del análisis. 3. Alta potencia de salida: una alta potencia de salida puede garantizar que el tubo de rayos X tenga suficiente energía para excitar la muestra durante el funcionamiento, obteniendo así resultados de análisis claros. La potencia de salida de algunos tubos de rayos X especializados puede alcanzar los 2,4 kW o 2,7 kW. 4. Materiales estructurales especiales: se utilizan tubos de cerámica corrugada, tubos de cerámica metálica, tubos de vidrio y otros materiales, que tienen buena resistencia a altas temperaturas, resistencia a la corrosión y resistencia a la radiación, lo que garantiza el funcionamiento estable de los tubos de rayos X en entornos de trabajo complejos. Al mismo tiempo, estos materiales también ayudan a mejorar el rendimiento de disipación de calor de los tubos de rayos X y a extender su vida útil. 5. Servicios personalizados: Los clientes pueden personalizar según sus necesidades específicas, incluido el diseño, la configuración y los materiales del ánodo del tubo de radiación, para cumplir con los requisitos de análisis específicos. 6. Alta confiabilidad: Los tubos de rayos X utilizados por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. garantizan un suministro confiable de tubos de rayos X, lo que garantiza el suministro continuo de tubos de rayos X de alta calidad durante la vida útil del instrumento y reduce el tiempo de inactividad del instrumento causado por fallas en los tubos. 7. Ampliamente aplicable: adecuado para varios modelos de XRD (difractómetro de rayos X), XRF (espectrómetro de fluorescencia de rayos X), analizador de cristales, analizadores de orientación y otros instrumentos analíticos nacionales y extranjeros, así como campos industriales como pruebas no destructivas, inspección, medición, etc. En resumen, los tubos de rayos X diseñados específicamente para instrumentos analíticos tienen las características de diversos materiales objetivo, puntos focales ricos, alta potencia, materiales estructurales especiales, capacidad de personalización, alta confiabilidad y amplias aplicaciones. Estas características les permiten satisfacer las necesidades de análisis de diversas sustancias complejas y se utilizan ampliamente en la investigación científica, la industria y otros campos.

Un monocromador es un componente instalado delante de un detector de rayos X, que monocromatiza los rayos X que pasan a través de una rendija receptora y solo detecta rayos X característicos de K α en el espectro de rayos X. Al utilizar este dispositivo, se pueden eliminar por completo los rayos X continuos, los rayos X característicos de K β y los rayos X fluorescentes, lo que permite un análisis de difracción de rayos X con una alta relación señal-ruido. Cuando se utilizan tubos de rayos X con objetivo de cobre junto con los monocromadores correspondientes, se pueden eliminar los rayos X fluorescentes generados a partir de muestras a base de Mn, Fe, Co y Ni, lo que los hace adecuados para el análisis de varias muestras. El uso de un monocromador de cristal curvado de grafito puede mejorar la relación pico-fondo, reducir el fondo, mejorar la resolución de picos débiles, lograr una eficiencia de reflexión de n ≥ 35% y reducir el ángulo de difracción del difractómetro. Grado de incrustación ≤ 0,55; La superficie del cristal puede inclinarse ± 2 grados.

El espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizado en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología. Ventajas principales de XAFS: Producto con el flujo luminoso más alto: Flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV, con una eficiencia espectral varias veces superior a la de otros productos; obtención de datos con una calidad equivalente a la radiación de sincrotrón Excelente estabilidad: La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que el 0,1% y la deriva de energía durante la recolección repetida es inferior a 50 meV. Límite de detección del 1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。