El difractómetro de rayos X de polvo se utiliza principalmente para el análisis cuantitativo y cualitativo de fases, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura del material, el análisis de la orientación de los cristales, la determinación de la tensión macroscópica o microscópica, la determinación del tamaño del grano, la determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. El difractómetro de rayos X TD-3500 producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC de Siemens importado, lo que hace que el difractómetro de rayos X TD-3500 tenga las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas y la investigación en varias industrias.

El difractómetro de rayos X TD-3700 es un difractómetro de rayos X multifuncional y de alto rendimiento fabricado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Las principales características son detectores de alto rendimiento, diversos métodos de escaneo, operación conveniente y segura, rendimiento estable y confiable. Para obtener detalles específicos, consulte el sitio web de Dandong Tongda Technology Co., Ltd.

El accesorio de temperatura media y baja está diseñado para comprender los cambios en la estructura cristalina durante el proceso de refrigeración a baja temperatura.

El accesorio de medición de película óptica paralela aumenta la longitud de la placa de rejilla para filtrar más líneas dispersas, lo que es beneficioso para reducir la influencia de la señal del sustrato en los resultados y mejorar la intensidad de la señal de la película.

El irradiador de rayos X puede generar rayos X de alta energía para irradiar células o animales pequeños. Se utiliza para diversas investigaciones básicas y aplicadas. A lo largo de la historia, se han utilizado irradiadores de isótopos radiactivos, que requieren transportar muestras a una instalación de irradiación central. Hoy en día, se pueden instalar equipos de irradiación de rayos X más pequeños, seguros, simples y de menor costo en los laboratorios para una irradiación de células conveniente y rápida.

Los accesorios de alta temperatura están diseñados para comprender los cambios en la estructura cristalina de las muestras durante el calentamiento a alta temperatura, así como los cambios en la disolución mutua de varias sustancias durante el calentamiento a alta temperatura.

El espectrómetro de estructura fina por absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología.

La difracción de rayos X (DRX) permite una cuantificación precisa de la fase TiO2, crucial para la calidad del producto. Los difractómetros de la serie TD de Dandong Tongda, con programas especializados, garantizan un análisis preciso de rutilo/anatasa (<0.2% error).

El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 ofrece una potencia de 1200 W en un diseño compacto, superando los estándares internacionales de 600 W. Con una linealidad de ±0,01° y una repetibilidad de 0,0001°, permite un análisis de fase preciso para la investigación de materiales y el control de calidad industrial. Su sistema de refrigeración integrado y la compatibilidad global de accesorios lo convierten en una solución ideal y rentable para laboratorios internacionales.

El analizador de cristales por rayos X de la serie TDF ofrece un rendimiento excepcional en el análisis de microestructuras, permitiendo la orientación de monocristales, la detección de defectos y la medición de tensiones. Con un diseño de tubo vertical, operación multiventana y control PLC importado, garantiza alta precisión y cumplimiento de las normas de seguridad (radiación).<0.1 µSv/h), and adaptability across industries. Backed by ISO certification and global exports, this instrument empowers scientific and industrial advancements worldwide