Adifractómetro de rayos XOpera dirigiendo un haz de rayos X sobre una muestra, donde los rayos X interactúan con los átomos de la muestra para generar difracción. Los patrones de difracción se forman cuando los rayos X coinciden con múltiplos enteros del espaciado atómico en la muestra, lo que da como resultado una serie de picos de difracción. Al analizar la posición, intensidad y forma de estos picos de difracción, podemos deducir la estructura cristalina y la composición de fases de la muestra.

Características del difractómetro de rayos X.

1. Alta sensibilidad: ElradiografíaEl difractómetro es capaz de detectar cantidades diminutas de sustancias, lo que lo hace adecuado para el análisis de una amplia gama de materiales cristalinos y amorfos.

2. Alta resolución: el difractómetro de rayos X exhibe una resolución excepcional, lo que permite la diferenciación de sustancias con estructuras cristalinas distintas.

3. Análisis rápido: la difractometría de rayos X facilita el análisis rápido de muestras, normalmente entre unos pocos minutos y decenas de minutos.

4. Datos precisos: utilizando un detector de alta precisión, la radiografíadifractómetroarroja datos precisos.

Aplicaciones del difractómetro de rayos X

1. Análisis de la estructura cristalina.

2. Análisis de composición de fases.

3. Investigación del proceso de crecimiento de cristales.

4. Investigación de propiedades de materiales.