Espectómetro de estructura fina por absorción de rayos X Es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología.

HAFS Ventajas principales:

Producto con el flujo luminoso más alto:

Flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV, con una eficiencia espectral varias veces superior a la de otros productos; obtención de datos con una calidad equivalente a la radiación de sincrotrón

Excelente estabilidad:

La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que el 0,1% y la deriva de energía durante la recolección repetida es inferior a 50 meV.

Límite de detección del 1%:

El alto flujo luminoso, la excelente optimización de la trayectoria óptica y la excelente estabilidad de la fuente de luz garantizan que se obtengan datos EXAFS de alta calidad incluso cuando el contenido de elementos medidos es del 1%.
1.

Principio del instrumento

2.datos de prueba

3.Elementos medibles: La parte verde puede medir el lado K y la parte amarilla puede medir el lado L

4.Área de aplicación