radiografíadifracciónes una técnica analítica no destructiva de uso común que se puede utilizar para revelar la estructura cristalina, la composición química y las propiedades físicas de sustancias. 

1.Análisis de fases

El análisis de fase se basa en la relación entre la posición y la intensidad de las líneas de difracción en ladifracción de rayos Xpatrón y el período de disposición atómica y el contenido de fase. La posición de la línea de difracción está relacionada con la periodicidad de la disposición de los átomos. Para las diferentes fases, existen patrones de difracción de rayos X específicos.

2.Parámetro de celosía

La constante de red es el parámetro estructural más básico del material cristalino. La base teórica de radiografíaEl método de difracción para determinar los parámetros de la red es calcular los parámetros de la red de acuerdo con la ley de Bragg y la relación entre los parámetros de la red y el valor de espaciado d del plano cristalino.

3.Estrés residual

Como unpruebas no destructivasmétodo, la técnica de difracción de rayos X se puede utilizar para estudiar la tensión residual en profundidad. La tensión residual macroscópica se manifiesta por el cambio de la posición del pico en el espectro de difracción de rayos X. Cuando hay tensión de compresión, la distancia entre las caras del cristal se vuelve más pequeña, por lo que el pico de difracción se desplaza a un ángulo mayor; por el contrario, cuando hay tensión de tracción, la distancia entre las caras del cristal se extiende, lo que resulta en el desplazamiento del pico de difracción a un ángulo menor.