El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para análisis cuantitativos y cualitativos de fase, análisis de estructura en masa, análisis de estructura de material, análisis de orientación de cristales, determinación de tensión macroscópica o microscópica, determinación del tamaño de partículas, determinación de cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas.