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2023-08-24 10:00

1. ¿Cómo estimar el tamaño del cristal de grano mediante ajuste?


Respuesta:(1) Esta función en el ajuste de picos, selecciona uno o varios picos de difracción para ajustar, la premisa es hacer un estándarinstrumentocurva, seleccione la curva de fondo adecuada, la función de pico, etc., para que el tamaño de grano estimado sea más preciso.

instrument


(2) El"Kα2"La función en la función del mouse se puede usar para ajustar el tamaño del grano girando la rueda del mouse. Como se muestra en el pico de difracción a 25,3° en la figura siguiente, se requiere una función de forma de pico estándar.

XRD


(3) Existe otro método en JADE, que puede separar el tamaño del grano del ancho de media altura causado por la tensión. Bajo la función de ajuste de pico, todos los picos de difracción en elDRXSe ajustan patrones para verificar los resultados del análisis de tamaño de grano y deformación.

diffraction peak




2. En el proceso de análisis cuantitativo de múltiples fases, ¿cómo distinguir la posición máxima de la fase superpuesta?


Respuesta:(1) JADE distingue los picos de difracción correspondientes de diferentes objetos a través de diferentes colores;

instrument


(2) En JADE, se pueden mostrar los resultados del ajuste de picos de difracción de diferentes fases y también se pueden utilizar diferentes colores para distinguir.

XRD


(3) El ajuste del pico de difracción de una determinada fase se puede mostrar monofásico en JADE

diffraction peak




3. Si se refinan, ¿cuáles son los requisitos para los datos XRD?


Respuesta:(1) La muestra tiene buena cristalización y un pico de difracción agudo;

              (2) La muestra no tiene ningún problema significativo de orientación preferida;

              (3) Información de ángulo precisa;

              (4) Elpico de difracciónel recuento es alto (el recuento máximo más fuerte es mejor que 10.000) y las estadísticas de los datos son buenas;

              (5) El rango de ángulos recopilados es lo más grande posible (2theta generalmente no es inferior a 120° para objetivos de cobre) de modo que se incluya la mayor cantidad posible de datos de difracción de alta resolución en el proceso de acabado.




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