Endifractómetro de rayos X, elmedidor integrado multifuncionalen descriptor de accesoies son Componente crucial que mejora considerablemente la funcionalidad y flexibilidad del instrumento. Se utiliza para el análisis de películas en placas, bloques y sustratos, y permite realizar pruebas como detección de fase cristalina, orientación, textura, tensión y estructura en el plano de películas delgadas.

Descripción básica demedidor integrado multifuncionalen descriptor de accesoies:

Definición: Ellos son término general para una serie de dispositivos o módulos adicionales utilizados endifractómetro de rayos Xpara ampliar las funciones del instrumento, mejorar la precisión y la eficiencia de la medición.

Finalidad: Estos archivos adjuntos tienen como objetivo permitirdifractómetro de rayos Xpara satisfacer una gama más amplia de necesidades experimentales y proporcionar información más completa y precisa sobre la estructura del material.

Las características funcionales demedidor integrado multifuncionalen descriptor de accesoies:

Realizar pruebas de diagrama polar utilizando métodos de transmisión o reflexión;

Las pruebas de estrés se pueden realizar utilizando el método de inclinación paralela o el mismo método de inclinación;

Prueba de película delgada (rotación en el plano de la muestra).

Características técnicas demedidor integrado multifuncionalen descriptor de accesoies:

Alta precisión:Ellos Generalmente utilizamos tecnología de detección avanzada y sistemas de control para garantizar una alta precisión y repetibilidad de las mediciones.

Automatización: Muchos accesorios admiten operaciones automatizadas y pueden integrarse sin problemas con eldifractómetro de rayos Xanfitrión para lograr la medición con un solo clic.

Diseño modular: facilita a los usuarios seleccionar y combinar diferentes módulos de accesorios según sus necesidades reales.

Áreas de aplicación demedidor integrado multifuncionalen descriptor de accesoies:

Ampliamente utilizado en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química, la biología y la geología;

Evaluación de estructuras de conjuntos metálicos tales como placas laminadas;

Evaluación de la orientación cerámica;

Evaluación de la orientación prioritaria del cristal en muestras de película delgada;

Ensayos de tensión residual de diversos materiales metálicos y cerámicos (evaluación de resistencia al desgaste, resistencia al corte, etc.);

Pruebas de tensión residual de películas multicapa (evaluación del desprendimiento de películas, etc.);

Análisis de oxidación superficial y películas de nitruro en materiales superconductores de alta temperatura como películas delgadas y placas metálicas;

Vidrio Si, Análisis de películas multicapa sobre sustratos metálicos (películas delgadas magnéticas, películas de endurecimiento de superficies metálicas, etc.);

Análisis de materiales de galvanoplastia como materiales macromoleculares, papel y lentes.

Elmedidor integrado multifuncionalen descriptor de accesoies  endifractómetro de rayos X son La clave para mejorar el rendimiento de los instrumentos. No solo mejoran su funcionalidad, sino que también mejoran la precisión y la eficiencia de las mediciones, proporcionando a los investigadores métodos de análisis de materiales más completos y profundos. Con el continuo avance tecnológico, estos accesorios seguirán desempeñando un papel importante en el fomento de la investigación científica en campos relacionados para lograr nuevos avances.