Sistema de análisis de difracción de rayos X de alta resolución
2026-02-18 09:23Difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700Es un instrumento analítico de referencia diseñado para laboratorios de materiales modernos. Integra alta precisión, análisis rápido, estabilidad excepcional y facilidad de uso, proporcionando información estructural completa para diversas muestras sólidas, como polvos, materiales a granel y películas delgadas.
Ventajas principales
El avance deTD-3700Su principal ventaja reside en su sistema detector de alto rendimiento. En comparación con los detectores de centelleo o proporcionales tradicionales, su detector de matriz 1D de alta velocidad estándar o el detector SDD opcional pueden aumentar la intensidad de la señal de difracción de decenas a cientos de veces. Esta tecnología permite al instrumento obtener patrones de difracción con mayor sensibilidad, resolución y relación señal-ruido en tiempos de adquisición extremadamente cortos, lo que reduce significativamente los ciclos experimentales y mejora la eficiencia tanto en la investigación como en el control de calidad.
El instrumento admite los modos de escaneo de reflexión y transmisión, lo que ofrece una flexibilidad de aplicación única. El modo de reflexión proporciona señales potentes, ideales para la identificación rutinaria de fases, mientras que el modo de transmisión ofrece una mayor resolución y es especialmente ideal para el análisis de la estructura cristalina. El modo de transmisión requiere cantidades mínimas de muestra, lo que aborda eficazmente los desafíos del análisis de trazas o muestras difíciles de preparar.
Especificaciones técnicas clave
Amplias áreas de aplicación
Las potentes capacidades analíticas deTD-3700lo convierten en una herramienta indispensable en las siguientes áreas:
Análisis de fases: Análisis cualitativo y cuantitativo de materiales desconocidos.
Determinación de la estructura: medición precisa de los parámetros de la red, orientación del cristal, tamaño de grano y cristalinidad.
Medición de tensiones: análisis de macro y micro tensiones dentro de los materiales.

Cobertura de la industria: Ampliamente utilizado en productos químicos, petróleo, energía, electrónica, baterías, materiales de construcción e investigación científica de vanguardia.
En resumen,Difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700, con su velocidad de detección revolucionaria, precisión de medición ultraalta, modos de análisis flexibles y confiabilidad sólida, se compromete a proporcionar soluciones estructurales de materiales confiables para investigadores e ingenieros de todo el mundo.
Compañía de Ciencia y Tecnología Dandong Tongda, Ltd.es una empresa nacional de alta tecnología especializada en I+D, fabricación y servicios técnicos de instrumentos de análisis de materiales de alta gama, como difractómetros de rayos X. Atendemos a los sectores globales de semiconductores, nuevas energías e inspección de calidad industrial con tecnología de detección de precisión. Si tiene alguna necesidad, ¡contáctenos en cualquier momento!