En campos como la ciencia de los materiales, la fabricación de semiconductores y la biomedicina, difractómetros de rayos XSon instrumentos fundamentales para caracterizar las estructuras cristalinas de los materiales, la composición de las fases y los parámetros reticulares. La diversidad de formas de muestra (polvo, películas delgadas, materiales a granel, monocristales, etc.) impone exigencias rigurosas a la adaptabilidad de estos equipos. Como uno de los principales centros de producción de China para...difractómetros de rayos X,Dandong TongdaHa desarrollado y fabricado una serie dedifractómetros de rayos XCon diseño modular y tecnología precisa de control de trayectoria óptica, estas capacidades permiten una compatibilidad total con muestras que abarcan desde polvos hasta películas delgadas, lo que proporciona un soporte técnico confiable para la investigación de materiales y la inspección de calidad en diversas industrias.

El análisis eficiente de muestras de polvo es una fortaleza fundamental deDifractómetros de rayos X de Dandong TongdaY una razón clave para su uso generalizado en la exploración geológica y la I+D de materiales químicos. Para muestras de polvo, esta serie de instrumentos está equipada con portamuestras de polvo específicos que admiten métodos de preparación convencionales como la peletización y el difuminado. La precisión de ajuste horizontal y angular del portamuestras puede alcanzar 0,001°, lo que garantiza un paralelismo estricto entre la superficie de la muestra y la trayectoria óptica incidente. Además, el detector de alta sensibilidad y el sistema óptico optimizado capturan eficazmente las señales de pico características de la difracción de polvo. Incluso las muestras de polvo con dopaje traza pueden identificarse con precisión para determinar su composición de fase. Por ejemplo, en el desarrollo de materiales para cátodos de baterías de litio, los investigadores pueden utilizardifractómetros de rayos XAnalizar rápidamente la pureza cristalina del polvo de fosfato de hierro y litio y evaluar el grado de defectos reticulares, proporcionando una guía basada en datos para la optimización del rendimiento del material.

Para satisfacer las necesidades de caracterización precisa de muestras de película delgada,Difractómetros de rayos X de Dandong Tongda Demuestran una gran adaptabilidad técnica. Los materiales de película delgada generalmente presentan características como espesores ultrafinos (escala nanométrica a micrométrica), baja adhesión y susceptibilidad a la interferencia del sustrato, lo que dificulta que los difractómetros convencionales separen eficazmente las señales de difracción de la película y el sustrato. Para solucionar esto, el... difractómetros de rayos XUtilizan la tecnología de difracción de rayos X de incidencia rasante (GIXRD). Al controlar la incidencia de los rayos X sobre la superficie de la muestra en un ángulo muy pequeño (0,1°–2°), se reduce significativamente la interferencia de la señal del sustrato, lo que permite un análisis preciso de la estructura cristalina de la película delgada. El portamuestras de película delgada del instrumento también admite la adsorción al vacío o la fijación con adhesivo conductivo, lo que evita el desplazamiento de las muestras durante las pruebas. Esto cumple con los requisitos de detección en campos como recubrimientos de chips semiconductores, películas delgadas ópticas y dispositivos electrónicos flexibles. Por ejemplo, en la investigación y el desarrollo de películas delgadas de células solares, el instrumento puede analizar con precisión la cristalinidad y la orientación de las películas delgadas de perovskita, lo que contribuye a mejorar la eficiencia de conversión fotoeléctrica de las células.

Más allá de los polvos y las películas delgadas, ladifractómetros de rayos XAmpliar aún más su adaptabilidad a más formatos de muestra mediante accesorios modulares. Para muestras a granel y monocristalinas, se pueden instalar portamuestras monocristalinos especializados que permiten la rotación y el posicionamiento tridimensionales. Para materiales unidimensionales como fibras y nanocables, los portamuestras de fibra equipados garantizan la alineación en direcciones específicas para obtener datos de difracción orientados. Además, los instrumentos admiten pruebas in situ y pueden combinarse con módulos auxiliares, como alta/baja temperatura o alta presión, para permitir la monitorización dinámica de las estructuras de las muestras en diversas condiciones ambientales, ampliando así sus aplicaciones.

En el contexto del rápido aumento de los instrumentos científicos nacionales, Difractómetros de rayos X de Dandong TongdaGracias a su flexible adaptabilidad de muestras y su alta rentabilidad, han roto el monopolio del mercado de equipos importados. Desde la investigación fundamental de materiales en laboratorios hasta el control de calidad en líneas de producción industrial, su precisa capacidad de análisis para diversas formas de muestra los convierte en herramientas vitales para impulsar la innovación en la ciencia de materiales y la modernización industrial.