一 、 Análisis de difracción de rayos X diversificado y de alta calidad

El detector convencional utiliza un canal para recibir datos cuando elradiografíagolpea la muestra. Un detector de matriz 1D avanzado que recibe datos en 640 canales simultáneamente. De este modo, la velocidad de prueba se puede aumentar más de diez veces.

二、Girado de precisión del instrumento

Al medir el polvo de sílice de una muestra estándar internacional, la desviación máxima de todos los picos en el espectro completo no es superior a ±0,01°. La precisión del ángulo de difracción de espectro completo puede garantizar una precisiónanálisis cualitativo y cuantitativo.

3. Excelente resolución

Cuando los tiempos de muestreo son 0,1 s y el ángulo de ancho de paso es 0,01°, el FWHM del pico principal 28,442° es mejor que 0,075° y la resolución es inferior al 85%. La alta resolución puede resolver el problema de la superposición de picos de difracción. Para el contenido complejo de la muestra para obtener rápidamente laanálisis de faseresultados.