La serie TDdifractómetroencarna la esencia de la investigación y el desarrollo de Tongda Technology a lo largo de los años, evolucionando con las demandas de los tiempos.

Difractómetro de rayos XSe utiliza principalmente para análisis cuantitativos y cualitativos de fase, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, análisis de orientación de cristales, determinación de tensión macroscópica o microscópica, determinación del tamaño de grano, determinación de cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloque o película.Difractómetro de rayos X TD-3500Producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC Siemens importado, lo que hace que elDifractómetro de rayos X TD-3500Tiene las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas y la investigación en varias industrias.

Instrumento de medición de ángulos con estructura de eje hueco