1.¿Cómo distinguir estrictamente la estructura de cuasicristales y cristales amorfos en el patrón XRD?

Respuesta:No existe una división estrictamente definida entre los tres. Sobre elXRDpatrón obtenido por el difractómetro, el patrón se caracteriza por varios o más estrechos"Picos"que generalmente son independientes entre sí. Si estos"picos"son significativamente más anchos, se puede determinar que el tamaño de partícula de los cristales en la muestra será inferior a 300 nm, lo que se puede llamar"microcristales".

              La característica del patrón de difracción amorfo es que sólo un cambio suave en la intensidad de la dispersiónRayos Xse observa en todo el rango del ángulo de escaneo, que puede tener uno o varios valores máximos; Al principio, debido a que la intensidad del haz es cercana a la del haz directo, la intensidad disminuye rápidamente con el aumento del ángulo y la intensidad del ángulo alto tiende lentamente al valor de fondo del instrumento.

              El"amorfo"La transición entre estos dos tipos es la"cuasicristalino"estado.

2.Al realizar difracción de rayos X, si utiliza objetivos diferentes, como un objetivo de cobre o un objetivo de Cr, ¿los espectros de los dos serán los mismos?

Respuesta:Diferentes objetivos tienen diferentes longitudes de onda características. El ángulo de difracción depende de la longitud de onda utilizada en el experimento. Según la ecuación de Bragg, los ángulos de difracción de un determinado grupo de caras de cristal con espaciamiento d serán diferentes, y los ángulos de difracción de cada grupo de caras de cristal con valores de espaciamiento mostrarán cambios regulares.

          Por lo tanto, la posición del pico de difracción en el patrón de difracción obtenido portubos de rayos xcon diferentes objetivos no es lo mismo y el cambio de posición del pico de difracción es regular. Un cristal tiene su propio conjunto de valores d que son inherentes a su estructura y pueden usarse como parámetro característico de la sustancia cristalina.