Difractómetro de rayos X de mesa se utiliza principalmente para la faseanálisisde polvos, sólidos y materias pastosas similares. Puede realizar análisis cualitativos o cuantitativos y análisis de estructura cristalina en materiales policristalinos como muestras de polvo y muestras de metal mediante el uso de mesa de trabajo difractómetro de rayos xPrincipio, ampliamente utilizado en la industria, agricultura, defensa nacional, productos farmacéuticos, minerales, seguridad alimentaria, petróleo, educación e investigación científica y otros campos.

La carga de la nueva matriz de alto rendimientodetectorhace que el rendimiento del conjuntomaquina de pruebasmejorar dramáticamente.

1.   El equipoes de tamaño pequeño y ligero;

2.   La fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje puede reducir el consumo de energía de toda la máquina;

3.   Puede calibrar y probar rápidamente la muestra;

4.   El control de línea es simple y fácil de depurar e instalar.

5.Precisión de medición de la posición máxima del difractómetro 0,001°.

 Cambiador automático de muestras

     Detector de matriz unidimensional

        detector proporcional

     Portamuestras giratorio