El TDM-20 de alta potenciaDifractómetro de rayos XXRD de sobremesa)Se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales pastosos similares. El principio de difracción de rayos X se puede utilizar para análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos, como muestras de polvo y de metal.XRD de sobremesa Es ampliamente utilizado en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, la industria farmacéutica, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica.

1. Características principales del analizador de sobremesa TDM-20Difractómetro de rayos XXRD de sobremesa)：

La carga del nuevo detector de matriz de alto rendimiento ha mejorado enormemente el rendimiento general del dispositivo, con un tamaño pequeño y peso ligero; Toda la máquina está integrada en el tamaño del escritorio (generalmente ≤ 1m³), ahorrando espacio y adecuada para pequeños laboratorios o entornos de enseñanza; La potencia de trabajo de la fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje puede alcanzar los 1600W; Análisis rápido, capaz de calibrar y probar muestras rápidamente; Mediante el uso de detectores de alto rendimiento (como detectores bidimensionales) y la optimización de la trayectoria óptica, el escaneo de la muestra se puede completar en unos minutos; Control de circuito simple, fácil de depurar e instalar; La repetibilidad del ángulo puede alcanzar 0,0001; Bajo consumo de energía y seguridad, utilizando tubos de rayos X de baja potencia (como ≤ 50W), equipados con protección radiológica múltiple, sin necesidad de salas de blindaje especiales; Fácil de usar, equipado con software de automatización, que admite operación con un solo clic, visualización de datos en tiempo real y comparación de bases de datos estándar (como ICDD PDF).

2. Escenarios de aplicación típicos del analizador de sobremesa TDM-20Difractómetro de rayos XXRD de sobremesa):

Ciencia de los materiales deDifractómetro de rayos X（XRD de sobremesa）:Identificación rápida de la estructura cristalina y la composición de fases (como metales, cerámicas, polímeros).

Ciencia de los materiales deDifractómetro de rayos X（XRD de sobremesa）: Pruebas en sitios industriales para comprobar la pureza cristalina de materias primas o productos terminados (como productos farmacéuticos y materiales para baterías).

Ciencia de los materiales deDifractómetro de rayos X（XRD de sobremesa）:Enseñanza experimental de pregrado, demostrando visualmente el principio de difracción de Bragg.

Ciencia de los materiales deDifractómetro de rayos X（XRD de sobremesa）:Análisis de composición mineral de reliquias culturales o selección preliminar de muestras de campo.

3. Parámetros técnicos del modelo de sobremesa TDM-20Difractómetro de rayos X（XRD de sobremesa）:

Proyecto: rango de parámetros

Fuente de rayos X: objetivo de Cu (λ=1,54 Å), objetivo de Mo opcional

Voltaje/corriente: 10-50 kV/0,1-2 mA

Rango del instrumento de medición de ángulos: 0-90 ° 2θ (algunos modelos se pueden ampliar)

Resolución angular: ≤ 0,01 °

Tipo de detector: detector de superficie lineal unidimensional o bidimensional

Tamaño de la muestra: Polvo (miligramos), película o bloque

4. Ventajas y limitaciones del TDM-20 de sobremesaDifractómetro de rayos X（XRD de sobremesa）:

Ventajas: Bajo costo (aproximadamente 1/3-1/2 del XRD grande), fácil mantenimiento.

Admite análisis no destructivos y preparación de muestras sencilla (como colocar polvo directamente).

limitaciones:

La resolución y la sensibilidad son ligeramente inferiores a las de los dispositivos de alta gama y pueden no ser adecuadas para análisis estructurales ultrafinos.

Las pruebas en condiciones extremas (como experimentos in situ a alta temperatura y alta presión) normalmente no son factibles.