XRD es un medio de investigación que consiste en la difracción mediante difracción de rayos X de un material para analizar su patrón de difracción para obtener información como la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material.

La difracción de rayos X de incidencia rasante (GI-XRD) es un tipo de técnica de difracción de rayos X, que se diferencia del experimento XRD tradicional, principalmente porque cambia el ángulo de incidencia de los rayos X y la orientación de la muestra.

En los últimos años se ha prestado amplia atención a la técnica de dispersión de rayos X de macromoléculas biológicas en ángulo pequeño. Este artículo presentará principalmente los avances relevantes de la combinación de ángulo pequeño biológico y otras técnicas en los últimos años.

Es necesario reducir la tensión residual dañina y predecir la tendencia de distribución y el valor de la tensión residual. En este artículo se presenta el método de prueba no destructivo de prueba de tensión residual.

Las pruebas no destructivas se basan en el desarrollo de la ciencia y la tecnología modernas. Con el desarrollo de la industria moderna, la aplicación de ensayos no destructivos es cada vez más popular.

La difracción de rayos X (XRD) es actualmente un método poderoso para estudiar la estructura cristalina (como el tipo y la distribución de ubicación de átomos o iones y sus grupos, la forma y el tamaño de las células, etc.).

La cristalografía de rayos X es una técnica utilizada para determinar la estructura atómica y molecular de un cristal, donde la estructura cristalina hace que el haz de rayos X incidente se difracte en muchas direcciones específicas.

Los rayos X son un tipo de radiación electromagnética muy utilizada en el campo médico e industrial. Aunque la mayoría de los rayos X se producen artificialmente, también existen algunos fenómenos en la naturaleza que producen rayos X.

Basado en la Ley de Bragg, la difracción de rayos X (DRX) in situ se puede utilizar para monitorear el cambio de fase y sus parámetros reticulares en el electrodo o en la interfaz electrodo-electrolito en tiempo real durante el ciclo de carga-descarga de un batería.

La prueba de rayos X es un método de prueba no destructivo que no daña el objeto en sí y se ha utilizado ampliamente en pruebas de materiales (QC), análisis de fallas (FA), control de calidad (QC), garantía de calidad y confiabilidad (QA/ Control de calidad), investigación y desarrollo (I+D) y otros campos.

A continuación se comparten tres detectores de un solo punto: contador proporcional, contador de centelleo y detector de estado sólido semiconductor.