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+86-415-6123805Recientemente, el Ministerio de Ciencia y Tecnología anunció la lista del segundo lote de proyectos clave en el marco del Plan Nacional de Investigación y Desarrollo clave de 2023 "Condiciones de investigación científica básica e investigación y desarrollo de instrumentos y equipos científicos importantes".
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Las diferentes formas cristalinas del mismo fármaco pueden diferir significativamente en apariencia, solubilidad, punto de fusión, etc., lo que afecta la estabilidad, producción, biodisponibilidad y seguridad del fármaco.
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XRD es un método de investigación para obtener información como la composición del material, las moléculas dentro del material mediante difracción de rayos X y el análisis de su patrón de difracción.
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La difracción de rayos X es un método para estudiar la fase y la estructura cristalina de una sustancia mediante el fenómeno de difracción de los rayos X en un cristal.
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Científicos dirigidos por NTU Singapur han desarrollado y simulado un nuevo método de ahorro de energía que puede producir rayos X altamente enfocados y finamente controlados que son mil veces más potentes que los métodos convencionales.
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La técnica de difracción de rayos X se utiliza a menudo para detectar la calidad del cristal de las obleas y las obleas epitaxiales.
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El análisis XRD es un método para analizar la estructura de los átomos internos en la distribución espacial de sustancias mediante el uso de difracción de rayos X formados por cristales.
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La difracción de rayos X es un método para analizar la estructura o composición de una muestra al iluminarla con un haz de rayos X monocromático.
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La tecnología XRD proporciona una poderosa herramienta para estudiar la composición química y mineral de la salmuera. Mediante el uso de esta técnica, se pueden comprender mejor las características y el valor de la salmuera.
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Los investigadores del NREL han utilizado capacidades de diagnóstico por rayos X de última generación como método no destructivo para examinar la composición y estructura de los materiales de las baterías.
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