Los componentes esenciales de un difractómetro de rayos X incluyen un generador de rayos X y un detector de rayos X. Cuando los rayos X incidentes se dirigen a la superficie de la muestra, el detector de rayos X se coloca de acuerdo con la ley de difracción para registrar simultáneamente la intensidad y el ángulo de difracción. El plano de cristal dondedifracción de rayos Xocurre siempre es paralelo a la superficie de la muestra.
Es importante señalar que la fuente de rayos X generada por el generador X emite una multitud de rayos X con diferentes longitudes de onda. Por lo tanto, para garantizar la precisión de la medición, los modernosdifractómetro de rayos XA menudo se incorporan monocromadores o filtros entre la muestra y el detector de rayos X para obtener patrones de difracción de alta calidad.
La elección de la longitud de onda de los rayos X está muy influenciada por el material objetivo del generador de rayos X; los objetivos comúnmente utilizados incluyen Cu, Co, Fe, Cr, Mo y W. El objetivo de Cu es ampliamente adecuado para la mayoría de las muestras, excepto aquellas que contiene Cu y Fe debido a su alta estabilidad y compatibilidad. Para analizar muestras de Fe, se recomienda el objetivo de Co con un monocromador y el objetivo de Fe con un filtro. El objetivo Cr también ofrece una excelente compatibilidad para analizar la mayoría de las muestras. El objetivo de Mo es particularmente adecuado para el análisis cuantitativo de austenita debido a su longitud de onda específica. Por último, el objetivo W proporciona continuidadradiografíaintensidad y se utiliza a menudo para la fotografía Laue de cristales individuales.