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  • Difractómetro
    Difractómetro
    1. La precisión del difractómetro es alta. 2. El rango de aplicación del difractómetro es amplio. 3. El difractómetro es fácil de operar, conveniente y eficiente.
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  • Difracción de rayos X de monocristal
    Difracción de rayos X de monocristal
    1. La máquina de cristal único adopta tecnología de control PLC. 2. Diseño modular, accesorios plug and play. 3. Equipo electrónico de enclavamiento de puertas con doble protección. 4. Tubo de rayos X de cristal único: se puede seleccionar una variedad de blancos, como Cu, Mo, etc. 5. El cristal único adopta una tecnología concéntrica de cuatro círculos para garantizar que el centro de ningún goniómetro permanezca inalterado.
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  • Analizador de cristales de rayos X en serie
    Analizador de cristales de rayos X en serie
    1. El instrumento de rayos X es fácil de operar y rápido para detectar. 2. El instrumento de rayos X es preciso y fiable, con un rendimiento excelente. 3. El aparato de rayos X cuenta con diversos accesorios funcionales para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos de prueba.
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  • Un difractómetro de rayos X 2D
    Un difractómetro de rayos X 2D
    Ventajas: Profundidad de penetración de rayos X continuamente ajustable Capacidad de observar la distribución de planos cristalinos con diferentes orientaciones. Análisis de la distribución de la orientación en muestras como fibras, películas delgadas y polvos. Examen de características estructurales como la distorsión reticular y el tamaño de los cristalitos.
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Caracterización de la perovskita: análisis del patrón XRD

2024-06-26

La estructura cristalina de las películas de perovskita modificadas por líquido iónico (IL) BMIMAc bajo diferentes duraciones de recocido se caracterizó pordifracción de rayos X.

X-ray diffraction.

La diferencia entre el grupo de control y la muestra modificada con BMIMAC se observó después de un recocido durante un breve período de tiempo (30 segundos). La intensidad máxima de la fase de perovskita en el grupo de control fue significativamente más fuerte que la de las muestras modificadas con BMIMAc, lo que indica una rápida formación de la fase de perovskita. Al extender el tiempo de recocido a 10 minutos, hubo un aumento significativo en el contenido de PbI2 en el grupo de control, mientras que el pico de la fase de perovskita permaneció relativamente estable, lo que sugiere un alto contenido de PbI2 residual en la película de perovskita final. 

crystal structure

Elestructura cristalinay el PbI2 residual de las películas de perovskita se puede discernir claramente mediante análisis de difracción de rayos X. Estos resultados proporcionan datos significativos que respaldan el impacto de las IL en la cinética de crecimiento de los cristales de perovskita y la regulación del contenido residual de PbI2 en las películas de perovskita.

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