Mini difractómetro de rayos X
1. Potencia máxima de salida de polvo: 1200 W;
2. Tipo de detector: detector de matriz o detector SDD, todos los tipos de detectores se pueden adaptar a este modo;
3. Patrón de trabajo: Cálculo de control automático del PLC, conversión del método de integración, el PLC realiza automáticamente PHA, corrección de tiempo muerto
- Tongda
- Liaoning, China
- 1—2 meses
- 100 unidades por año
- información
Introducción al difractómetro de rayos X TDM-20:
El difractómetro de rayos X de polvo TDM-20 (XRD de sobremesa) se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales pastosos similares. El principio de difracción de rayos X se puede utilizar para análisis cualitativos o cuantitativos, así como para el análisis de la estructura cristalina de materiales policristalinos, como muestras de polvo y de metal. Se utiliza ampliamente en la industria, la agricultura, la defensa nacional, la industria farmacéutica, la minería, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica, entre otros campos.
Difractómetro de polvo de sobremesa
El difractómetro de rayos X de polvo TDM-20 (XRD de sobremesa) supera el estándar internacional original de 600 W y se ha actualizado a un nuevo modelo de 1600 W. Su funcionamiento es sencillo, su rendimiento es estable y su bajo consumo de energía. Puede equiparse con un detector proporcional o un nuevo detector de matriz de alta velocidad, lo que mejora notablemente el rendimiento del equipo.
Difractómetro de polvo de sobremesa
Características del difractómetro de rayos X (difractómetro de polvo):
El equipo es de tamaño pequeño y ligero.；
La fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje puede reducir el consumo de energía de toda la máquina.；
Puede calibrar y probar rápidamente la muestra.；
El control de línea es simple y conveniente para la depuración y la instalación.；
La linealidad del ángulo de difracción de espectro completo puede alcanzar ±0,01°；
Precisión de medición de la posición del pico de difracción 0,001.
Bienvenido a contactar a Tongda para obtener más parámetros relacionados con el producto y soluciones de uso.
01 Ciencia de Dandong Tongda
Análisis de difracción de rayos X diversificado y de alta calidad
El detector convencional utiliza un canal para recibir datos cuando los rayos X inciden en la muestra. Un detector de matriz 1D avanzado recibe datos en 640 canales simultáneamente. Esto permite aumentar la velocidad de la prueba más de diez veces.
02 Ciencia de Dandong Tongda
Ajuste de la precisión del instrumento
Al medir el polvo de sílice de una muestra estándar internacional, la desviación máxima de todos los picos del espectro completo no debe ser superior a ±0,01°. La precisión del ángulo de difracción del espectro completo garantiza un análisis cualitativo y cuantitativo preciso.
03Ciencia de Dandong Tongda
Excelente resolución
Cuando el tiempo de muestreo es de 0,1 s y el ángulo de ancho de paso es de 0,01°, el FWHM del pico principal de 28,442° es mejor que 0,075' y el
La resolución es inferior al 85 %. Una alta resolución puede solucionar el problema de la superposición de picos de difracción. Para el contenido complejo de la muestra, se obtienen rápidamente los resultados del análisis de fase.
Piezas opcionales:
Detector proporcional, detector de matriz unidimensional, cambiador de muestras automático de 6 bits, portamuestras giratorio.
Sobre nosotros
Un difractómetro de rayos X es un instrumento de precisión que se utiliza para estudiar la estructura cristalina, la morfología y las propiedades de la materia. Durante el proceso de embalaje y transporte, se deben tomar ciertas medidas para garantizar que la seguridad y el rendimiento del instrumento no se vean afectados.
Haga clic en el enlace para obtener más detalles:https://www.tongdaxrd.com/news/about-x-ray-diffractometer-packaging
