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Soporte giratorio para muestras

1.Nombre: Soporte de muestra giratorio.
2. Aplicación: Accesorios para difractómetro.
3. Función: Garantiza una buena reproducibilidad de la intensidad de difracción y
Elimina la orientación preferida.

  • Tongda
  • Liaoning, China
  • 1-2 meses
  • 100 unidades por año
  • información

Soporte giratorio para muestras

En el análisis de difracción de rayos X (DRX) para campos como la ciencia de los materiales, el análisis geológico y la I+D farmacéutica, la orientación cristalina y la uniformidad del grano de una muestra influyen directamente en la precisión y la reproducibilidad de los datos. Dandong Tongda Technology Co., Ltd. ha diseñado un Platina giratoria de alta precisión para muestras Diseñado específicamente para difractómetros de rayos X. Gracias a su exclusiva tecnología de rotación en el plano, corrige eficazmente los errores de medición causados ​​por granos gruesos, textura o hábito cristalino en las muestras, lo que permite obtener resultados de difracción más auténticos y fiables.

Principio técnico fundamental: Rotación en el plano, estadística de precisión

La función principal de esta plataforma de muestra es hacer que la muestra gire de forma continua y constante dentro de su propio plano.

Eliminación de errores de grano grueso: Cuando una muestra contiene una pequeña cantidad de granos gruesos, las pruebas estáticas pueden dar lugar a patrones de difracción no estadísticamente representativos. Al rotar continuamente la muestra bajo el haz de rayos X, la plataforma giratoria garantiza que el haz irradie una mayor cantidad de granos con diferentes orientaciones. homogeneiza la señal de difracción, transformando puntos discretos en anillos de difracción suaves y continuos y reduciendo significativamente los errores de intensidad causados ​​por granos gruesos.

Alteración de la orientación preferida (textura): Para muestras que han desarrollado textura (es decir, orientación preferida de los granos) durante el procesamiento o el crecimiento, o muestras con características específicas hábitos cristalinosLas pruebas rotacionales garantizan que todos los planos cristalinos posibles tengan la misma oportunidad de difractar. Esto elimina la influencia de la orientación fija en la intensidad de difracción, lo que proporciona datos de intensidad que reflejan fielmente la composición de fase y garantizan excelente reproducibilidad de los resultados de las mediciones.

Parámetros y funciones clave de rendimiento

Modo de rotación: Rotación del eje β (plano propio de la muestra).

Velocidad de rotación: Ajustable desde 1 ~ 60 RPM (revoluciones por minuto), satisfaciendo las necesidades de diferentes escenarios de prueba.

Modos de funcionamiento: Soportes rotación continua a velocidad constante para escaneos de rutina, y modo paso a paso para mediciones más precisas.

Control de alta precisión: Características Ancho de paso mínimo de 0,1°, garantizando un posicionamiento rotacional preciso.

Amplia gama de escenarios de aplicación

Esta plataforma giratoria para muestras es una opción ideal para las siguientes aplicaciones:

Preparación y pretratamiento de muestras para análisis de textura de materiales metálicos.

Análisis de muestras a granel o en polvo que sufren de problemas de grano grueso.

Análisis de muestras con fuerte orientación preferida, tales como placas laminadas, recubrimientos y cristales laminares.

Análisis cuantitativo de fases que requiere una altísima reproducibilidad de la intensidad de difracción.


XRD Sample stageSample Holder

                                                              Soporte giratorio para muestras (Etapa de muestra XRD)



Especificaciones del portamuestras giratorio:

Modo de rotacióneje β (plano de muestra)
Velocidad de rotación 1~60 RPM
Ancho mínimo del escalón0,1°
Modo de funcionamientoRotación a velocidad constante para el escaneo de la muestra (paso continuo)

Rotating Sample Holder         XRD Sample stage

                                                        Soporte giratorio para muestras (Etapa de muestra XRD)

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. se dedica a proporcionar instrumentos y accesorios de análisis de rayos X de alto rendimiento para la investigación científica y las pruebas industriales. Esta plataforma giratoria para muestras ejemplifica la sólida capacidad de la empresa en el diseño mecánico de precisión y su profundo conocimiento de las necesidades experimentales.

Para obtener información más detallada sobre el producto, los precios y el servicio posventa, no dude en contactarnos directamente.

https://www.tongdaxrd.com/



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