El accesorio de medición integrado multifuncional, desarrollado porTecnología Co., Ltd. de Dandong Tongda.Es una potente plataforma de análisis de muestras, diseñada con precisión. Montada sobre un goniómetro de ángulo amplio, mejora significativamente las capacidades de los instrumentos analíticos de rayos X, permitiendo un análisis diverso y avanzado de materiales en placa, materiales a granel y películas delgadas sobre sustratos.
Funciones principales y características técnicas
El valor fundamental de esta etapa de muestra reside en su integración multifuncional, aplicada principalmente en tres áreas clave:
Análisis de la estructura del material: realiza con precisión la identificación de fase y la detección del grado de orientación, proporcionando datos cruciales para investigar la estructura cristalina y la textura (orientación preferida) de los materiales.
Prueba de estrés: se puede utilizar para realizar pruebas y análisis de estrés residual, lo cual es vital para evaluar la resistencia al desgaste, la maquinabilidad de materiales metálicos y cerámicos y el riesgo de delaminación de películas multicapa.
Análisis de película delgada: diseñado específicamente para muestras de película delgada, lo que permite realizar pruebas estructurales en el plano de películas delgadas, particularmente adecuado para analizar películas multicapa como películas magnéticas y películas de endurecimiento de superficies metálicas.
En términos de diseño técnico, este accesorio cuenta con un sistema de enlace multieje que permite un ajuste fino de la postura de la muestra:
Eje α (inclinación): ofrece un rango de movimiento de -45° a 90°.
Eje β (rotación en el plano): proporciona una rotación completa de 360°.
Ejes x, y, z: proporcionan un rango de traslación de ±10 mm, lo que facilita el posicionamiento preciso del área de muestra.
Todos los ejes se mueven con un paso fino de 0,001° o 0,001 mm, lo que garantiza una precisión de posicionamiento y una repetibilidad de medición extremadamente altas. En cuanto a los métodos de medición, admite pruebas de figura polar mediante transmisión y reflexión, así como pruebas de tensión mediante isoinclinación o inclinación lateral, ofreciendo metodologías flexibles que se adaptan a diversas necesidades de investigación e inspección industrial.
El Accesorio de medición integrado multifuncional Es una plataforma de movimiento de precisión con múltiples grados de libertad. No solo posee capacidad de rotación, sino que también integra diversos modos de movimiento, como inclinación y traslación, diseñados específicamente para realizar tareas analíticas más avanzadas y complejas, como análisis de textura, tensión y estructura en el plano de películas delgadas.
Campos de aplicación principales
Aprovechando sus potentes características, este accesorio se utiliza ampliamente en numerosos campos avanzados, incluidos, entre otros:
Evaluación de estructuras de agregados metálicos (por ejemplo en placas laminadas).
Evaluación de la orientación cerámica.
Pruebas de tensión residual de diversos materiales metálicos y cerámicos.
Análisis de películas de oxidación/nitruración superficial (por ejemplo, en películas delgadas superconductoras de alta temperatura, placas metálicas).
Análisis de películas multicapa sobre vidrio, obleas de silicio y sustratos metálicos.
En resumen, estoAccesorio de medición integrado multifuncional deDandong TongdaEs un accesorio de alta gama que mejora sustancialmente las capacidades analíticas de los sistemas de difracción de rayos X. Es una herramienta poderosa para la investigación pionera en ciencia de materiales y la inspección industrial de precisión.
