El detector se utiliza para registrar el espectro de difracción y, por lo tanto, es uno de los componentes más importantes del equipo de difracción policristalina. El contador proporcional y el contador de centelleo sustituyen al contador Geiger y se convierten en el detector más utilizado. A medida que los seres humanos se vuelven más y más conscientes de la naturaleza, se vuelven cada vez más profundos y los requisitos para los experimentos son cada vez más altos. Los contadores proporcionales o de centelleo más diversos, simples, no pueden cumplir con diferentes requisitos experimentales, por lo que muchos se desarrollan uno tras otro. Diferentes detectores. 

Los difractómetros de rayos X domésticos están siempre en fase de detectores proporcionales y de centelleo. Esto está lejos de satisfacer las necesidades de los tiempos. Tongda Technology ha lanzado una nueva generación de difractómetro de rayos X de gama alta TD-3700. Y está equipado con avanzado.¡Detector microstrip de semiconductores de alta precisión! 

El detector de microtiras de semiconductores de alta precisión está compuesto por 640 tiras de microtiras de semiconductores. 

En comparación con el detector de centelleo tradicional o el detector proporcional, puede aumentar la intensidad del cálculo de difracción en más de 100 veces y puede completarse en un período de muestreo corto. Alta sensibilidad, patrón de difracción de alta resolución y mayor intensidad de conteo. 

Detector de microtiras de semiconductores de alta precisión, rango de datos dinámicos de conteo de un solo canal de 24 bits, conteo de 16777216 detectores de conteo hasta 1X10"9 cps; al mismo tiempo, con el controlador DCS, el tiempo de lectura es de solo 89 µs. El detector mencionado anteriormente estará disponible para la línea de productos que incluye TDM-20, TD-3700, que son los dos modelos nuevos en el Año Nuevo.