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El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para análisis cuantitativos y cualitativos de fase, análisis de estructura en masa, análisis de estructura de material, análisis de orientación de cristales, determinación de tensión macroscópica o microscópica, determinación del tamaño de partículas, determinación de cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas.
El difractómetro de rayos X de la serie TD hereda su alta estabilidad constante y su tecnología de posicionamiento servoaccionado de bucle cerrado de alta precisión, lo que mejora aún más la precisión. Además de mejorar el rendimiento tradicional, como la trayectoria óptica plug and play con triple protección, el TD-3700 también incorpora tecnología de conteo de fotones híbrido HPC y de eje hueco vertical, lo que lo convierte en un representante de la nueva generación de difractómetros de rayos X y uno de los mejores difractómetros policristalinos de rayos X del mundo.