La dispersión de rayos X de ángulo pequeño es la dispersión difusa de electrones en rayos X en el rango de ángulo pequeño cerca del haz original. La dispersión de ángulo pequeño ocurre en todos los materiales con una densidad de electrones no uniforme en la escala nanométrica.

La difracción de rayos X de ángulo pequeño (SAXD) se utiliza principalmente para determinar el espaciado de caras de cristales muy grandes o la estructura de películas delgadas.

La dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS) es una tecnología que recopila señales dispersas generadas por los rayos X que pasan a través de una muestra para estudiar la información estructural de una muestra en el rango de 1 a 100 nm.

El difractómetro de rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de interacción entre rayos X y sustancias para obtener información como la estructura cristalina y la constante de red de sustancias midiendo el ángulo de difracción y la intensidad de los rayos X en las sustancias.