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El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento analítico a gran escala y un instrumento de rayos X que se utiliza para estudiar la microestructura interna de los materiales. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de la tensión residual, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales.
El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de las sustancias. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales.
El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento de rayos X analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de sustancias. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros reticulares, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. El analizador de cristal de rayos X de la serie TDF adopta una manga de tubo vertical y se pueden utilizar cuatro ventanas simultáneamente. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF adopta la tecnología de control PLC importada, con alta precisión de control y buen rendimiento antiinterferencias, lo que puede lograr un funcionamiento confiable del sistema. El PLC controla el interruptor de alto voltaje, la elevación y tiene la función de entrenar automáticamente el tubo de rayos X, lo que extiende efectivamente la vida útil del tubo de rayos X y del instrumento de rayos X.
El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento de rayos X a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de las sustancias. Utiliza el principio de interacción entre los rayos X y el cristal para determinar la disposición atómica dentro del cristal mediante el análisis del patrón de difracción de rayos X. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de la tensión residual, el estudio de la estructura de placas y varillas, la investigación de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. El analizador de cristales de rayos X, como instrumento de rayos X, proporciona información valiosa para la investigación en ciencia de materiales y otros campos relacionados. Con el avance continuo de la tecnología y la expansión de las aplicaciones, el analizador de cristales de rayos X seguirá desempeñando un papel importante en la investigación científica y la producción industrial.
El instrumento automático de orientación por rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar la estructura cristalina, la orientación y los parámetros de red. Tiene una amplia gama de aplicaciones en la ciencia de los materiales, la geología, la física y la química, especialmente en el estudio de la microestructura y las propiedades de los materiales monocristalinos, policristalinos y de película delgada. A continuación se proporcionará una introducción detallada al principio de funcionamiento, la aplicación y las precauciones operativas del orientador de cristales por rayos X. Con el avance de la tecnología, los dispositivos de instrumentos de orientación de rayos X automáticos continúan mejorando, con una mayor resolución y un funcionamiento más sencillo. Al mismo tiempo, la combinación con otras técnicas analíticas como la microscopía electrónica y el análisis espectroscópico hace que el análisis de la estructura cristalina sea más completo y profundo. Además, los dispositivos analizadores de orientación de rayos X portátiles y de monitoreo en línea se han desarrollado gradualmente, brindando posibilidades de análisis in situ y monitoreo en tiempo real. En resumen, el analizador de orientación por rayos X es una potente herramienta analítica que resulta crucial para comprender y controlar la microestructura de los materiales. Con el continuo desarrollo de la tecnología, su aplicación en diversos campos se hará más extensa y profunda.
La difracción de rayos X es una técnica de ensayo no destructiva de materiales rápida, precisa y eficiente. Como medio para caracterizar la estructura cristalina y su regla de cambio, se usa ampliamente en muchos campos como la biología, la medicina, la cerámica, etc.
El difractómetro de rayos X es un tipo de instrumento para analizar la estructura cristalina, la composición de fases y la orientación cristalina de una sustancia mediante la interacción de los rayos X con la materia.
Un difractómetro de tensión de rayos X es un instrumento ampliamente utilizado en el campo de la ciencia e ingeniería de materiales para medir la distribución de tensión interna de los materiales.
Un equipo de investigación del Instituto Hefei de Ciencias Físicas de la Academia de Ciencias de China realizó recientemente un estudio que propone un método novedoso para mejorar la detección de rayos X mediante la incorporación de cristales peritécticos de CsPb2Br5 desfasados en materiales de bloques de CsPbBr3.
Recientemente, el Ministerio de Ciencia y Tecnología anunció la lista del segundo lote de proyectos clave en el marco del Plan Nacional de Investigación y Desarrollo clave de 2023 "Condiciones de investigación científica básica e investigación y desarrollo de instrumentos y equipos científicos importantes".