En el campo de la tecnología moderna, muchos productos de alta tecnología, desde sustratos para pantallas de teléfonos inteligentes hasta componentes básicos de generadores láser, se basan en un material fundamental: monocristales sintéticos. La precisión del ángulo de corte de estos cristales determina directamente el rendimiento y la productividad de los productos finales. El analizador de orientación de rayos X es un instrumento indispensable en la fabricación de precisión de dispositivos de cristal. Utilizando el principio de difracción de rayos X, mide con precisión y rapidez los ángulos de corte de monocristales naturales y sintéticos, incluyendo cristales piezoeléctricos, ópticos, láser y semiconductores. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. ofrece una gama de analizadores de orientación de rayos X confiables adaptados a las necesidades de investigación, procesamiento y fabricación de la industria de materiales cristalinos. 01 Máquina versátil para diversas necesidades de orientación de cristales Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda incluyen principalmente modelos como TYX-200 y TYX-2H8. El modelo TYX-200 ofrece una precisión de medición de ±30″, con pantalla digital y una lectura mínima de 10″. El modelo TYX-2H8 es una versión mejorada del TYX-200, con mejoras en la estructura del goniómetro, la guía de carga, la funda del tubo de rayos X, el cuerpo de soporte y una platina de muestra elevada. Estas mejoras permiten al TYX-2H8 manipular muestras de 1 a 30 kg con diámetros de 2 a 8 pulgadas. Conserva la pantalla digital de ángulos y una precisión de medición de ±30″. 02 Características técnicas avanzadas para un funcionamiento sencillo Los analizadores de orientación por rayos X de Dandong Tongda están diseñados pensando en la practicidad y la fiabilidad. Su manejo intuitivo no requiere conocimientos especializados ni habilidades avanzadas por parte del operador. El instrumento cuenta con una pantalla digital de ángulos que garantiza mediciones intuitivas y de fácil lectura, minimizando al mismo tiempo el riesgo de lecturas erróneas. La pantalla se puede poner a cero en cualquier posición, lo que permite la lectura directa de la desviación del ángulo de la oblea. Algunos modelos están equipados con goniómetros duales para funcionamiento simultáneo, lo que mejora significativamente la eficiencia de detección. Un integrador especial con amplificación de picos mejora la precisión de la medición. El tubo de rayos X y el cable de alto voltaje adoptan un diseño integrado que mejora la fiabilidad del alto voltaje. El sistema de alto voltaje del detector utiliza un módulo de alto voltaje de CC, y la plataforma de muestreo con succión al vacío mejora aún más la precisión y la velocidad de la medición. 03 Diseños de etapas de muestra dedicados para diversas necesidades de prueba Para satisfacer los requisitos de medición de muestras con diferentes formas y tamaños, Dandong Tongda ofrece una variedad de etapas de muestra especializadas: Platina de muestra TA: Diseñada para cristales bastoncillos, cuenta con una pista de carga y permite ensayar cristales bastoncillos con un peso de 1 a 30 kg y un diámetro de 2 a 6 pulgadas (ampliable a 8 pulgadas). Esta platina permite medir superficies de referencia de cristales bastoncillos, así como de cristales oblea. Platina de muestra TB: Diseñada también para cristales bastoncillos, incluye una pista de carga y rieles de soporte en forma de V. Permite ensayar cristales bastoncillos con un peso de 1 a 30 kg, diámetros de 2 a 6 pulgadas (ampliables a 8 pulgadas) y longitudes de hasta 500 mm. Mide las caras finales de cristales bastoncillos y las superficies de cristales oblea. Platina de Muestra TC: Se utiliza principalmente para detectar las superficies de referencia externas de obleas monocristalinas como silicio y zafiro. Su placa de succión de diseño abierto evita la obstrucción de los rayos X y las imprecisiones de posicionamiento. La bomba de succión de la platina sujeta firmemente obleas de 5 a 20 cm, lo que garantiza una detección precisa. ​ Platina de Muestra TD: Diseñada para mediciones multipunto de obleas como silicio y zafiro. Las obleas se pueden girar manualmente en la platina (p. ej., 0°, 90°, 180°, 270°) para satisfacer las necesidades de medición específicas del cliente. 04 Modelo de alto rendimiento para desafíos de muestras grandes Para la detección de muestras grandes y complejas, los analizadores de orientación por rayos X de Dandong Tongda demuestran un rendimiento excepcional. El modelo TYX-2H8, por ejemplo, es especialmente adecuado para orientar lingotes y varillas de cristal de zafiro. Este instrumento permite medir las orientaciones de los cristales de zafiro A, C, M y R, con un rango de medición ajustable de 0 a 45° mediante automatización eléctrica. Sus especificaciones técnicas son impresionantes: Tubo de rayos X con objetivo de cobre, ánodo puesto a tierra y refrigeración por aire forzado. Corriente de tubo ajustable: 0–4 mA; voltaje del tubo: 30 kV. Operación mediante control por computadora o pantalla táctil. Movimiento sincronizado del tubo de rayos X y del detector; mesa giratoria accionada eléctricamente. Consumo total de energía: ≤2 kW. Cabe destacar su capacidad para manipular muestras, incluyendo lingotes de cristal de entre 30 y 180 kg de peso, con dimensiones máximas de 350 mm de diámetro y 480 mm de longitud. Estas capacidades lo hacen ideal para la detección de muestras grandes en la mayoría de los entornos industriales. 05 Amplias aplicaciones que respaldan múltiples industrias Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda se utilizan ampliamente en diversas industrias involucradas en la investigación, el procesamiento y la fabricación de materiales cristalinos. En la industria de semiconductores, permiten un corte con orientación precisa de obleas de silicio. En el campo de la optoelectrónica, se utilizan para el procesamiento de precisión de sustratos de zafiro, cristales ópticos y cristales láser. En el sector de los materiales piezoeléctricos, garantizan mediciones precisas del ángulo de corte para un rendimiento estable del producto final. Los instrumentos son especialmente adecuados para materiales de zafiro, muy demandados por su dureza, alta transmitancia de luz y excelente estabilidad fisicoquímica. El zafiro se utiliza ampliamente en sustratos LED, pantallas de electrónica de consumo y ventanas ópticas. Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda se han convertido en herramientas esenciales en los campos de investigación y fabricación de materiales cristalinos de China, gracias a su rendimiento confiable, diversas configuraciones y fuerte adaptabilidad. Su diseño modular y la variedad de opciones de escenario de muestra permiten a los usuarios seleccionar configuraciones que satisfagan necesidades específicas, garantizando una alta precisión de detección y mejorando al mismo tiempo la eficiencia del trabajo. Ya sea para instituciones de investigación o para control de calidad de fabricación y optimización de procesos, estos instrumentos brindan un soporte técnico sólido, permitiendo a los usuarios lograr avances en la fabricación de precisión.

De confianza mundial: el analizador de orientación por rayos X de Dandong Tongda recibe certificaciones multinacionales. En el cambiante panorama global actual de semiconductores, dispositivos ópticos y ciencia de materiales, la medición precisa de la orientación de los cristales se ha vuelto crucial para mejorar la calidad del producto y la eficiencia de la producción. Como desarrollador y fabricante especializado en el campo de instrumentos de análisis de rayos X, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. anuncia el lanzamiento de su Analizador de Orientación de Rayos X de alto rendimiento. Este instrumento integra tecnología avanzada de difracción de rayos X con algoritmos inteligentes, ofreciendo soluciones de medición de orientación rápidas y precisas para las industrias relacionadas con los cristales en todo el mundo. Principio técnico: La integración perfecta de la difracción de rayos X y la medición de precisión El Analizador de Orientación de Rayos X funciona según la ley de difracción de Bragg. Cuando los rayos X inciden en la superficie del cristal, los planos atómicos, dispuestos regularmente, generan fenómenos de difracción en ángulos específicos. Al capturar estas señales de difracción con detectores de precisión y calcular los ángulos de difracción, el instrumento puede determinar con precisión la orientación del cristal, proporcionando datos fiables para el corte y procesamiento posteriores. En comparación con los métodos de orientación tradicionales, la tecnología de orientación de cristales por rayos X ofrece importantes ventajas: no es destructiva, es de alta precisión y altamente eficiente, lo que garantiza resultados de medición fiables sin dañar la muestra. El instrumento alcanza una precisión de medición de ±30 segundos de arco (±30″), con una lectura mínima de 10 segundos de arco, lo que cumple con los requisitos de orientación de la gran mayoría de los materiales cristalinos. Serie de productos: Soluciones integrales para diversas necesidades de aplicaciones Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda Technology incluyen principalmente dos modelos fundamentales: el TYX-200 y el TYX-2H8. El modelo TYX-200, como versión básica, cuenta con una pantalla digital con una lectura mínima de 10″ y una precisión de medición de ±30″, lo que lo hace ideal para las necesidades rutinarias de orientación de materiales cristalinos. El modelo TYX-2H8 es una actualización completa del TYX-200, con una estructura de goniómetro mejorada, pistas de carga mejoradas y una platina de muestra elevada. El TYX-2H8 puede medir muestras de 1 a 30 kg de peso con diámetros de 2 a 8 pulgadas. Algunas configuraciones pueden incluso ampliarse para manejar muestras de 30 a 180 kg de peso, con diámetros de hasta 350 mm y longitudes de hasta 480 mm. Para requisitos de investigación más complejos, la empresa también ofrece los analizadores de orientación de rayos X de la serie TDF, que utilizan tecnología de control PLC importada, ofrecen un rango de voltaje de tubo de 10 a 60 kV y permiten funcionalidades más amplias, como la orientación de monocristales, la detección de defectos y la determinación de parámetros de red. Aplicaciones funcionales: una herramienta clave para el procesamiento de cristales en múltiples industrias El Analizador de Orientación por Rayos X puede determinar con precisión y rapidez los ángulos de corte de monocristales naturales y sintéticos y, en coordinación con las máquinas de corte, realizar cortes orientados. Es un instrumento indispensable para el mecanizado de precisión y la fabricación de dispositivos cristalinos. En la industria de semiconductores, este instrumento se utiliza ampliamente para inspeccionar lingotes, obleas y chips, controlando procesos como el corte, el rectificado y el pulido para garantizar un rendimiento constante de los dispositivos semiconductores. Para el procesamiento de cristales ópticos y láser, el instrumento puede determinar con precisión la orientación del cristal, garantizando así que el rendimiento óptico de los dispositivos ópticos cumpla con los requisitos de diseño y mejorando el rendimiento del producto. En particular, en el campo del procesamiento de cristal de zafiro, el instrumento puede satisfacer simultáneamente los requisitos de medición para las orientaciones de cristal de zafiro A, C, M y R, con un rango de medición ajustable eléctricamente de 0 a 45°, adaptándose a las complejas necesidades de procesamiento. En la industria de la joyería y las piedras preciosas, el instrumento facilita la orientación precisa de las piedras preciosas, mejorando la precisión del corte y el valor de los productos terminados, ayudando a los fabricantes a maximizar los efectos ópticos y el valor comercial de las piedras preciosas. Características del producto: El diseño innovador mejora la experiencia del usuario Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda Technology incorporan varias características innovadoras que mejoran significativamente la practicidad y confiabilidad del instrumento. Fácil operación: el instrumento se puede operar sin conocimientos profesionales o habilidades extensas, lo que reduce la barrera de uso y el tiempo de capacitación del personal. Pantalla digital: La pantalla de ángulo digital proporciona una observación intuitiva, reduce los errores de lectura y se puede poner a cero en cualquier posición, lo que facilita la visualización directa de la desviación del ángulo de la oblea. Diseño eficiente: Algunos modelos están equipados con goniómetros duales que pueden funcionar simultáneamente, lo que mejora en gran medida la eficiencia de la inspección. Precisión mejorada: un integrador especial con amplificación de pico mejora la precisión de detección y una placa de muestra con succión al vacío garantiza un posicionamiento estable de la muestra. Fiabilidad y durabilidad: El diseño integrado del tubo de rayos X y el cable de alto voltaje mejora la fiabilidad. El detector de alto voltaje utiliza un módulo de CC de alto voltaje, lo que garantiza un funcionamiento estable a largo plazo. Protección de seguridad: El instrumento utiliza vidrio de plomo de alta densidad y alta transmitancia como escudo protector contra rayos X. La dosis de radiación externa no supera los 0,1 µSv/h, cumpliendo con las normas internacionales de seguridad. Configuración de la etapa de muestra: Adaptación flexible a diversas necesidades de medición Para cumplir con los requisitos de medición de muestras de diferentes formas y tamaños, Dandong Tongda Technology ofrece varias configuraciones de etapa de muestra: Platina de muestra tipo TA: Diseñada específicamente para barras de cristal cilíndricas, equipada con rieles de carga. Puede medir barras de cristal con un peso de 1 a 30 kg y un diámetro de 2 a 6 pulgadas (ampliable a 8 pulgadas), así como la superficie de referencia de cristales en forma de barra o la superficie de obleas de cristal en forma de lámina. Platina de muestra tipo TB: También diseñada para varillas de cristal cilíndricas, incorpora rieles de soporte en forma de V y puede medir varillas de cristal de hasta 500 mm de longitud, lo que la hace particularmente adecuada para medir las caras de los extremos de cristales en forma de varilla. Platina de muestra tipo TC: Se utiliza principalmente para detectar la superficie de referencia de la circunferencia exterior de obleas monocristalinas como silicio y zafiro. Su diseño abierto soluciona los problemas de obstrucción de rayos X y las imprecisiones de posicionamiento causadas por las placas de succión. Platina de muestra tipo TD: Diseñada específicamente para la medición multipunto de obleas como silicio y zafiro. La oblea puede rotarse manualmente en la platina (p. ej., 0°, 90°, 180°, 270°) para satisfacer las necesidades de medición específicas del cliente. Mercado global: Capacitando a clientes internacionales para lograr avances tecnológicos Los productos de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. se han introducido con éxito en el mercado internacional, exportando a numerosos países y regiones, como Estados Unidos, Corea del Sur, Irán, Azerbaiyán, Irak y Jordania. Basándose en los principios de "Primero el cliente, primero el producto, primero el servicio", la empresa ofrece a usuarios globales productos de alta tecnología y alta calidad, además de un soporte técnico integral. Para los clientes internacionales, la empresa ofrece asesoramiento técnico completo y servicio posventa, que incluye capacitación operativa, soporte de mantenimiento y suministro de repuestos, garantizando la tranquilidad de los usuarios. Atendiendo las necesidades de los clientes en diferentes regiones, la empresa también puede ofrecer soluciones personalizadas, como el diseño especial de la platina de muestra y la configuración del software de medición, garantizando así la perfecta adaptación del instrumento a las aplicaciones específicas. Las interfaces de operación multilingües y la documentación técnica detallada en inglés reducen aún más las barreras de uso para los clientes internacionales y mejoran la experiencia de usuario internacional. El Analizador de Orientación por Rayos X de Dandong Tongda Technology no es solo una herramienta de medición, sino un socio estratégico para mejorar la competitividad empresarial. Puede acortar significativamente el ciclo de I+D de materiales cristalinos, optimizar los procesos de producción, garantizar la calidad del producto y generar valor tangible para la industria global de fabricación de cristales. Ya sea en la fabricación de chips semiconductores, el procesamiento de componentes ópticos o la investigación de nuevos materiales, elegir Dandong Tongda Technology significa optar por una solución de orientación de cristales fiable, eficiente y precisa.

El analizador de orientación de rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar la orientación de los cristales. Se utiliza ampliamente en campos como la ciencia de los materiales, la geología, la física, etc., para estudiar la estructura cristalina, los parámetros reticulares, los defectos de los cristales, etc. El principio de funcionamiento de un analizador de orientación de rayos X es irradiar un haz de rayos X monocromático sobre el cristal en prueba. Cuando los rayos X interactúan con los átomos del cristal, se produce dispersión. Según la ley de Bragg, cuando la longitud de onda de los rayos X es un múltiplo entero del espaciamiento atómico en un cristal, la luz dispersada interferirá y formará una serie de franjas brillantes y oscuras alternas, conocidas como reflexión de Bragg. Al medir los ángulos y las intensidades de estas reflexiones de Bragg, se puede calcular información como la orientación del cristal y los parámetros de la red. El analizador de orientación de rayos X generalmente incluye las siguientes partes principales: 1. Fuente de rayos X: dispositivo que produce rayos X monocromáticos, normalmente utilizando un tubo de rayos X o una fuente de radiación de sincrotrón. 2. Etapa de muestra: una plataforma utilizada para colocar el cristal a probar, que puede ajustar la posición y el ángulo del cristal. 3. Detector: se utiliza para recibir rayos X dispersos y convertirlos en señales eléctricas. Entre los detectores más comunes se encuentran los contadores de centelleo, los contadores proporcionales, etc. 4. Sistema de adquisición y procesamiento de datos: se utiliza para recopilar señales emitidas por detectores y realizar el procesamiento y análisis de datos. Generalmente incluye analizadores multicanal, computadoras y otros equipos. 5. Sistema de control: se utiliza para controlar el movimiento de la fuente de rayos X, la plataforma de muestra y el detector para lograr la medición de cristales en diferentes direcciones. Mediante el uso de un analizador de orientación de rayos X, los investigadores pueden determinar con precisión la orientación y los parámetros de red de los cristales, lo que les permite comprender mejor su estructura y sus propiedades. Esto es de gran importancia para el desarrollo de nuevos materiales, la exploración geológica, el crecimiento de cristales y otros campos.

El instrumento de orientación automática de rayos X es un instrumento indispensable para el procesamiento de precisión y la fabricación de dispositivos de cristal. Es ampliamente utilizado en la investigación, procesamiento y fabricación de materiales cristalinos.

La tecnología Micro-CT tiene importantes ventajas en la caracterización de cerámicas, ya que puede revelar la estructura compuesta dentro del material sin dañarla y restaurar la tecnología clave en la producción de cerámicas.

El aglutinante es un compuesto polimérico que se utiliza en la fabricación de electrodos para adherir la sustancia activa al fluido colector. La función principal es unir y mantener las sustancias activas.