En el campo de la tecnología moderna, muchos productos de alta tecnología, desde sustratos para pantallas de teléfonos inteligentes hasta componentes centrales de generadores láser, se basan en un material fundamental: monocristales sintéticos. La precisión del ángulo de corte de estos cristales determina directamente el rendimiento y la productividad de los productos finales. El analizador de orientación de rayos X es un instrumento indispensable en la fabricación de precisión de dispositivos de cristal. Mediante el principio de difracción de rayos X, mide con precisión y rapidez los ángulos de corte de monocristales naturales y sintéticos, incluyendo cristales piezoeléctricos, ópticos, láser y semiconductores. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. ofrece una gama de analizadores de orientación de rayos X confiables adaptados a las necesidades de investigación, procesamiento y fabricación de la industria de materiales cristalinos. 01 Máquina versátil para diversas necesidades de orientación de cristales Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda incluyen principalmente modelos como TYX-200 y TYX-2H8. El modelo TYX-200 ofrece una precisión de medición de ±30″, con pantalla digital y una lectura mínima de 10″. El modelo TYX-2H8 es una versión mejorada del TYX-200, con mejoras en la estructura del goniómetro, la guía de carga, la funda del tubo de rayos X, el cuerpo de soporte y una platina de muestra elevada. Estas mejoras permiten al TYX-2H8 manipular muestras de 1 a 30 kg con diámetros de 2 a 8 pulgadas. Conserva la pantalla digital de ángulos y una precisión de medición de ±30″. 02 Características técnicas avanzadas para un funcionamiento sencillo Los analizadores de orientación por rayos X de Dandong Tongda están diseñados pensando en la practicidad y la fiabilidad. Su fácil manejo no requiere conocimientos especializados ni habilidades avanzadas por parte del operador. El instrumento cuenta con una pantalla digital de ángulos, lo que garantiza mediciones intuitivas y de fácil lectura, minimizando al mismo tiempo el riesgo de lecturas erróneas. La pantalla se puede poner a cero en cualquier posición, lo que permite la lectura directa de la desviación del ángulo de la oblea. Algunos modelos están equipados con goniómetros duales para funcionamiento simultáneo, lo que mejora significativamente la eficiencia de detección. Un integrador especial con amplificación de picos mejora la precisión de la medición. El tubo de rayos X y el cable de alta tensión adoptan un diseño integrado que mejora la fiabilidad de la alta tensión. El sistema de alta tensión del detector utiliza un módulo de alta tensión de CC, y la plataforma de muestreo con succión al vacío mejora aún más la precisión y la velocidad de la medición. 03 Diseños de escenarios de muestra dedicados para diversas necesidades de prueba Para satisfacer los requisitos de medición de muestras con diferentes formas y tamaños, Dandong Tongda ofrece una variedad de etapas de muestra especializadas: Platina de muestra TA: Diseñada para cristales bastoncillos, cuenta con una pista de carga y permite ensayar cristales bastoncillos con un peso de 1 a 30 kg y un diámetro de 2 a 6 pulgadas (ampliable a 8 pulgadas). Esta platina permite medir superficies de referencia de cristales bastoncillos, así como de cristales oblea. Platina de Muestra TB: Diseñada también para cristales bastoncillos, incluye una pista de carga y rieles de soporte en forma de V. Permite ensayar cristales bastoncillos con un peso de 1 a 30 kg, diámetros de 2 a 6 pulgadas (ampliables a 8 pulgadas) y longitudes de hasta 500 mm. Mide las caras finales de cristales bastoncillos y las superficies de cristales oblea. Platina de Muestra TC: Se utiliza principalmente para detectar las superficies de referencia externas de obleas monocristalinas como silicio y zafiro. Su placa de succión de diseño abierto evita la obstrucción de los rayos X y las imprecisiones de posicionamiento. La bomba de succión de la platina sujeta firmemente obleas de 5 a 20 cm, lo que garantiza una detección precisa. ​ Platina de Muestra TD: Diseñada para mediciones multipunto de obleas como silicio y zafiro. Las obleas se pueden girar manualmente en la platina (p. ej., 0°, 90°, 180°, 270°) para satisfacer las necesidades de medición específicas del cliente. 04 Modelo de alto rendimiento para desafíos de muestras grandes Para la detección de muestras grandes y complejas, los analizadores de orientación por rayos X de Dandong Tongda demuestran un rendimiento excepcional. El modelo TYX-2H8, por ejemplo, es especialmente adecuado para orientar lingotes y varillas de cristal de zafiro. Este instrumento permite la medición de las orientaciones de cristal de zafiro A, C, M y R, con un rango de medición ajustable de 0 a 45° mediante automatización eléctrica. Sus especificaciones técnicas son impresionantes: Tubo de rayos X con objetivo de cobre, ánodo puesto a tierra y refrigeración por aire forzado. Corriente de tubo ajustable: 0–4 mA; voltaje del tubo: 30 kV. Operación mediante control por computadora o pantalla táctil. Movimiento sincronizado del tubo de rayos X y del detector; mesa giratoria accionada eléctricamente. Consumo total de energía: ≤2 kW. Cabe destacar su capacidad para manipular muestras, incluyendo lingotes de cristal de entre 30 y 180 kg de peso, con dimensiones máximas de 350 mm de diámetro y 480 mm de longitud. Estas capacidades lo hacen ideal para la detección de muestras grandes en la mayoría de los entornos industriales. 05 Amplias aplicaciones que respaldan múltiples industrias Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda se utilizan ampliamente en diversas industrias involucradas en la investigación, el procesamiento y la fabricación de materiales cristalinos. En la industria de semiconductores, permiten un corte con orientación precisa de obleas de silicio. En el campo de la optoelectrónica, se utilizan para el procesamiento de precisión de sustratos de zafiro, cristales ópticos y cristales láser. En el sector de los materiales piezoeléctricos, garantizan mediciones precisas del ángulo de corte para un rendimiento estable del producto final. Los instrumentos son especialmente adecuados para materiales de zafiro, muy demandados por su dureza, alta transmitancia de luz y excelente estabilidad fisicoquímica. El zafiro se utiliza ampliamente en sustratos LED, pantallas de electrónica de consumo y ventanas ópticas. Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda se han convertido en herramientas esenciales en los campos de investigación y fabricación de materiales cristalinos de China, gracias a su rendimiento confiable, diversas configuraciones y fuerte adaptabilidad. Su diseño modular y la variedad de opciones de escenario de muestra permiten a los usuarios seleccionar configuraciones que satisfacen necesidades específicas, garantizando una alta precisión de detección y mejorando al mismo tiempo la eficiencia del trabajo. Ya sea para instituciones de investigación o para control de calidad de fabricación y optimización de procesos, estos instrumentos brindan un soporte técnico sólido, permitiendo a los usuarios lograr avances en la fabricación de precisión.

El instrumento automático de orientación por rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar la estructura cristalina, la orientación y los parámetros de red. Tiene una amplia gama de aplicaciones en la ciencia de los materiales, la geología, la física y la química, especialmente en el estudio de la microestructura y las propiedades de los materiales monocristalinos, policristalinos y de película delgada. A continuación se proporcionará una introducción detallada al principio de funcionamiento, la aplicación y las precauciones operativas del orientador de cristales por rayos X. Con el avance de la tecnología, los dispositivos de instrumentos de orientación de rayos X automáticos continúan mejorando, con una mayor resolución y un funcionamiento más sencillo. Al mismo tiempo, la combinación con otras técnicas analíticas como la microscopía electrónica y el análisis espectroscópico hace que el análisis de la estructura cristalina sea más completo y profundo. Además, los dispositivos analizadores de orientación de rayos X portátiles y de monitoreo en línea se han desarrollado gradualmente, brindando posibilidades de análisis in situ y monitoreo en tiempo real. En resumen, el analizador de orientación por rayos X es una potente herramienta analítica que resulta crucial para comprender y controlar la microestructura de los materiales. Con el continuo desarrollo de la tecnología, su aplicación en diversos campos se hará más extensa y profunda.

El analizador de orientación de rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar la orientación de los cristales. Se utiliza ampliamente en campos como la ciencia de los materiales, la geología, la física, etc., para estudiar la estructura cristalina, los parámetros reticulares, los defectos de los cristales, etc. El principio de funcionamiento de un analizador de orientación de rayos X es irradiar un haz de rayos X monocromático sobre el cristal en prueba. Cuando los rayos X interactúan con los átomos del cristal, se produce dispersión. Según la ley de Bragg, cuando la longitud de onda de los rayos X es un múltiplo entero del espaciamiento atómico en un cristal, la luz dispersada interferirá y formará una serie de franjas brillantes y oscuras alternas, conocidas como reflexión de Bragg. Al medir los ángulos y las intensidades de estas reflexiones de Bragg, se puede calcular información como la orientación del cristal y los parámetros de la red. El analizador de orientación de rayos X generalmente incluye las siguientes partes principales: 1. Fuente de rayos X: dispositivo que produce rayos X monocromáticos, normalmente utilizando un tubo de rayos X o una fuente de radiación de sincrotrón. 2. Etapa de muestra: una plataforma utilizada para colocar el cristal a probar, que puede ajustar la posición y el ángulo del cristal. 3. Detector: se utiliza para recibir rayos X dispersos y convertirlos en señales eléctricas. Entre los detectores más comunes se encuentran los contadores de centelleo, los contadores proporcionales, etc. 4. Sistema de adquisición y procesamiento de datos: se utiliza para recopilar señales emitidas por detectores y realizar el procesamiento y análisis de datos. Generalmente incluye analizadores multicanal, computadoras y otros equipos. 5. Sistema de control: se utiliza para controlar el movimiento de la fuente de rayos X, la plataforma de muestra y el detector para lograr la medición de cristales en diferentes direcciones. Mediante el uso de un analizador de orientación de rayos X, los investigadores pueden determinar con precisión la orientación y los parámetros de red de los cristales, lo que les permite comprender mejor su estructura y sus propiedades. Esto es de gran importancia para el desarrollo de nuevos materiales, la exploración geológica, el crecimiento de cristales y otros campos.

Utilizando el método de difracción (transmisión) de rayos X para probar la estructura cristalina única de las fibras. Pruebe la orientación de la muestra basándose en datos como la textura de la fibra y el ancho del medio pico.

La tecnología XRD juega un papel importante en la investigación y el desarrollo de materiales cerámicos. Proporciona una base científica confiable para la síntesis, optimización del proceso de preparación, mejora del rendimiento y popularización de aplicaciones de materiales cerámicos.

El instrumento de orientación automática de rayos X es un instrumento indispensable para el procesamiento de precisión y la fabricación de dispositivos de cristal. Es ampliamente utilizado en la investigación, procesamiento y fabricación de materiales cristalinos.

La tecnología Micro-CT tiene importantes ventajas en la caracterización de cerámicas, ya que puede revelar la estructura compuesta dentro del material sin dañarla y restaurar la tecnología clave en la producción de cerámicas.

El aglutinante es un compuesto polimérico que se utiliza en la fabricación de electrodos para adherir la sustancia activa al fluido colector. La función principal es unir y mantener las sustancias activas.

Utilizando el principio de difracción de rayos X, el ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales se determina de forma precisa y rápida, y la máquina de corte está equipada para el corte direccional de dichos cristales.