Instrumento de difracción de tecnología Tongda

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para análisis cualitativos y cuantitativos de fases, análisis de estructuras cristalinas, análisis de estructuras de materiales, análisis de orientación de cristales, determinación de tensiones macroscópicas o microscópicas, determinación del tamaño de grano, determinación de cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas.

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