El espectrómetro de estructura fina por absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología.

El espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta analítica que se utiliza para estudiar la estructura y las propiedades de las sustancias. XAFS obtiene información sobre los átomos y las moléculas de una muestra midiendo la absorción de rayos X de la muestra dentro de un rango de energía específico. XAFS es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales. La tecnología XAFS se usa ampliamente en la ciencia de los materiales, la química, la biología y otros campos, especialmente en áreas de investigación como catálisis, baterías, sensores, etc. XAFS tiene un valor de aplicación importante. A través de la tecnología XAFS, los investigadores pueden obtener una comprensión más profunda de la microestructura y las propiedades de las muestras, lo que proporciona un poderoso soporte para el diseño y la optimización de nuevos materiales.

El espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizado en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología. Ventajas principales de XAFS: Producto con el flujo luminoso más alto: Flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV, con una eficiencia espectral varias veces superior a la de otros productos; obtención de datos con una calidad equivalente a la radiación de sincrotrón Excelente estabilidad: La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que el 0,1% y la deriva de energía durante la recolección repetida es inferior a 50 meV. Límite de detección del 1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。