¿Por qué el espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X es una herramienta indispensable en la ciencia de los materiales modernos?

El espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizado en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología. Ventajas principales de XAFS: Producto con el flujo luminoso más alto: Flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV, con una eficiencia espectral varias veces superior a la de otros productos; obtención de datos con una calidad equivalente a la radiación de sincrotrón Excelente estabilidad: La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que el 0,1% y la deriva de energía durante la recolección repetida es inferior a 50 meV. Límite de detección del 1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。

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