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El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 es un nuevo miembro de la serie TD, equipado con diversos detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales y detectores SDD, entre otros. Integra un análisis rápido, un funcionamiento sencillo y seguridad para el usuario. La arquitectura modular de hardware y el sistema de software personalizado se combinan a la perfección, lo que reduce al mínimo la tasa de fallos, ofrece un excelente rendimiento antiinterferencias y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje. El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 admite tanto el método convencional de escaneo de datos por difracción como el de transmisión. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que resulta ideal para análisis estructurales y otros campos. El modo de difracción presenta señales de difracción potentes y es más adecuado para la identificación rutinaria de fases en el laboratorio. Además, en el modo de transmisión, la muestra de polvo puede estar en cantidades traza, lo que resulta adecuado para la adquisición de datos en casos donde el tamaño de la muestra es relativamente pequeño y no cumple los requisitos del método de difracción para la preparación de muestras. El detector de matriz utiliza plenamente la tecnología de conteo de fotones mixtos, sin ruido, con una rápida adquisición de datos y una velocidad diez veces superior a la de los detectores de centelleo. Ofrece una excelente resolución energética y puede eliminar eficazmente los efectos de fluorescencia. Los detectores multicanal ofrecen tiempos de lectura más rápidos y una mejor relación señal-ruido. Un sistema de control del detector con puerta electrónica y disparo externo completa eficazmente la sincronización del sistema. El principio de funcionamiento del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: Al aprovechar la fluctuación de los rayos X, al irradiarlos sobre un cristal, los átomos o iones del cristal actúan como centros de dispersión, dispersando los rayos X en todas direcciones. Debido a la regularidad de la disposición atómica en los cristales, estas ondas dispersas interfieren y se refuerzan mutuamente en ciertas direcciones, formando difracción. Midiendo el ángulo y la intensidad de difracción, se puede obtener información estructural del cristal. Las principales características del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 son: (1) Fácil de operar, sistema de recolección con un solo clic; (2) Diseño modular, accesorios de instrumento plug and play, sin necesidad de calibración; (3) Monitoreo en línea en tiempo real mediante pantalla táctil para mostrar el estado del instrumento; (4) Dispositivo de enclavamiento de puerta con cable electrónico, doble protección, que garantiza la seguridad del usuario; (5) Generador de rayos X de alta frecuencia y alto voltaje, con un rendimiento estable y confiable; (6) Unidad de control de grabación avanzada con fuerte capacidad antiinterferencia. La alta precisión del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 permite un análisis de alta precisión de la estructura cristalina de los materiales, como la determinación precisa de constantes reticulares, parámetros celulares, etc. La precisión de la medición del ángulo puede alcanzar ±0,0001°. La alta resolución del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 puede distinguir claramente los picos de difracción adyacentes, analizar con precisión la información de difracción de diferentes planos cristalinos para estructuras cristalinas complejas y revelar las características de microestructura de los materiales. La naturaleza no destructiva del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: no dañará la muestra durante el proceso de prueba y la muestra puede mantenerse en su estado original para múltiples pruebas, lo que es particularmente importante para muestras preciosas o difíciles de obtener. Análisis rápido del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: Los difractómetros de rayos X de alta resolución modernos tienen capacidades de detección rápida y pueden completar las pruebas de muestras en un corto período de tiempo, lo que mejora la eficiencia del trabajo. 3. Áreas de aplicación del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: Materiales semiconductores: se utilizan para detectar la calidad cristalina de materiales semiconductores monocristalinos y películas delgadas epitaxiales, analizar desajustes de red, defectos y otra información, lo que ayuda a optimizar el rendimiento de los dispositivos semiconductores. Materiales superconductores: estudiar la estructura cristalina y el proceso de transición de fase de los materiales superconductores para proporcionar una base para optimizar las propiedades superconductoras. Nanomateriales: Analizar el tamaño del grano, la estructura cristalina, la deformación microscópica, etc. de los nanomateriales ayuda a los investigadores a comprender mejor sus propiedades y aplicaciones. Otros campos: También se utiliza ampliamente en la investigación y el control de calidad de materiales metálicos, cerámicos, poliméricos, biomateriales y otros campos. El difractómetro de rayos X de alta resolución es un instrumento analítico de alta precisión, alta resolución, no destructivo y rápido, con importantes aplicaciones en diversos campos.
El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700, con todas las ventajas del difractómetro de rayos X TD-3500, está equipado con un detector de matriz de alto rendimiento. En comparación con los detectores de centelleo o los detectores proporcionales, la intensidad del cálculo de difracción se puede aumentar varias decenas de veces y se pueden obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto. El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 admite tanto el escaneo de datos de difracción convencional como los métodos de escaneo de datos de transmisión. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que es adecuado para el análisis estructural y otros campos. El modo de difracción tiene fuertes señales de difracción y es más adecuado para la identificación de fase de rutina en el laboratorio. Además, en el modo de transmisión, la muestra de polvo puede estar en cantidades traza, lo que es adecuado para la adquisición de datos en casos en los que el tamaño de la muestra es relativamente pequeño y no cumple con los requisitos del método de difracción para la preparación de la muestra.