$Campos de investigación adecuados para el difractómetro de rayos X bidimensional$

Campos de investigación adecuados para el difractómetro de rayos X bidimensional

El difractómetro de rayos X bidimensional permite un análisis preciso de la estructura cristalina, la composición de fases, la cristalinidad, el tamaño de grano y los defectos en metales, cerámicas, nanomateriales, polímeros y más. Ofrece adquisición rápida, alta resolución y ensayos no destructivos, lo que facilita el desarrollo de materiales, la optimización de procesos y la mejora del rendimiento. Su versatilidad y sus capacidades multimodo lo hacen indispensable en la investigación en ciencia de materiales.

2026/02/27

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