El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para análisis cualitativos y cuantitativos de fases, análisis de estructuras cristalinas, análisis de estructuras de materiales, análisis de orientación de cristales, determinación de tensiones macroscópicas o microscópicas, determinación del tamaño de grano, determinación de cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas.

El uso de un detector de píxeles híbrido puede lograr la mejor calidad de datos y al mismo tiempo garantizar un bajo consumo de energía y una baja refrigeración. Este detector combina las tecnologías clave de recuento de fotones individuales y píxeles híbridos, y se aplica en diversos campos, como la radiación sincrotrón y las fuentes de luz de laboratorio convencionales, eliminando eficazmente la interferencia del ruido de lectura y la corriente oscura. La tecnología de píxeles híbridos puede detectar directamente rayos X, lo que facilita la distinción de señales, y el detector puede proporcionar datos de alta calidad de manera eficiente.

El instrumento de medición de ángulos multifuncional de alta precisión de Tongda Technology no solo puede medir muestras de polvo convencionales, sino también probar muestras líquidas, muestras coloidales, muestras viscosas, polvos sueltos y muestras sólidas grandes.

El goniómetro es el corazón del difractómetro de rayos X, y el difractómetro de rayos X de la serie TD tiene una precisión de medición extremadamente alta.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo o cuantitativo de fases de muestra, análisis de la estructura cristalina, determinación de la cristalinidad, etc. Se pueden instalar varios accesorios funcionales especiales y el software de control y aplicación correspondiente según las necesidades reales para formar un sistema de difracción con funciones especiales. El difractómetro de rayos X es un instrumento analítico de laboratorio con alta precisión.

El patrón de difracción de rayos X sirve como base más fiable para determinar patrones policristalinos, y el patrón de difracción de rayos X se considera frecuentemente como la "huella digital" de patrones cristalinos.

La estructura cristalina de las películas de perovskita modificadas por BMIMAc de líquido iónico (IL) bajo diferentes duraciones de recocido se caracterizó mediante difracción de rayos X.

La difracción de rayos X es una técnica de ensayo no destructiva de materiales rápida, precisa y eficiente. Como medio para caracterizar la estructura cristalina y su regla de cambio, se usa ampliamente en muchos campos como la biología, la medicina, la cerámica, etc.

Las propiedades de los materiales suelen estar determinadas por su composición de fases, y la XRD se utiliza ampliamente como uno de los principales medios de análisis de fases.