La instrumentación de difracción de rayos X de escritorio TDM-10 es un instrumento utilizado para analizar la estructura de fases de los materiales, que puede equiparse con detectores de matriz lineal/proporcional/de centelleo. 1. Principio de funcionamiento del instrumento de difracción de rayos X de escritorio TDM-10: Según la ley de Bragg, cuando un haz de rayos X monocromáticos incide sobre un cristal, si se cumple la condición de difracción de Bragg (n λ = 2d sen θ, donde λ es la longitud de onda de los rayos X, d es la separación interplanar y θ es el ángulo de incidencia), los átomos o moléculas del cristal se dispersarán e interferirán con los rayos X, formando un patrón de difracción específico. Midiendo la intensidad de difracción a diferentes ángulos, se puede obtener información estructural del cristal. 2. Características del instrumento de difracción de rayos X de escritorio TDM-10: La alta resolución de un instrumento de difracción de rayos X de escritorio permite una medición precisa de la estructura cristalina de las sustancias, lo cual es crucial para estudiar mezclas complejas o buscar fases traza y policristalinas de bajo contenido. Análisis no destructivo de instrumentación de difracción de rayos X de escritorio: durante el proceso de prueba, no causará daños a la muestra y la muestra puede permanecer en su estado original para futuras pruebas o usos. El funcionamiento del equipo de difracción de polvo de rayos X de escritorio es simple: los equipos de difracción de polvo de rayos X de escritorio modernos generalmente tienen funciones de automatización e inteligencia, lo que hace que la operación sea más conveniente y reduce los requisitos de conocimientos y habilidades profesionales del operador. La versatilidad del equipo de difracción de polvo de rayos X de escritorio: el equipo de difracción de polvo de rayos X puede realizar varios análisis, como análisis cualitativo y cuantitativo de fase, análisis de constante de red, análisis de tensión, etc. 3. Parámetros técnicos del equipo de difracción de polvo de rayos X de escritorio TDM-10: La máquina de difracción de rayos X de escritorio tiene un volumen pequeño; La fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje reduce el consumo general de energía de la máquina; Puede calibrar y probar muestras rápidamente; Control de circuito simple, fácil de depurar e instalar; La precisión de medición de la posición del pico de difracción es de 0,001°; Detector: centelleo, proporcional, matriz lineal; Rango de 2 θ: - 10° ~ 150° Potencia: 600W; Voltaje máximo: 40kV; Corriente máxima: 15mA; Tubos de rayos X: tubos cerámicos corrugados, tubos metalocerámicos, tubos de vidrio. 4. Áreas de aplicación del difractor de rayos X de sobremesa TDM-10: Ciencia de los materiales: se utiliza para estudiar la estructura cristalina, la composición de las fases, el tamaño del grano, la cristalinidad, etc. de metales, cerámicas, semiconductores y otros materiales, lo que ayuda a los científicos de materiales a comprender las propiedades y características de los materiales. En el campo de la química, la máquina de difracción de rayos X se puede utilizar en la industria de fabricación de catalizadores, cemento, productos farmacéuticos y otros productos para identificar fases en muestras desconocidas, así como para analizar cuantitativamente fases conocidas en muestras mixtas. Geología: Realización de análisis de fases en minerales, rocas, etc. para determinar su composición y estructura mineral. Ciencia ambiental: se utiliza para analizar la composición mineral y las formas de contaminantes en muestras ambientales como suelo y sedimentos. Industria alimentaria: detección de componentes cristalinos, aditivos, etc. en alimentos. La máquina de difracción de rayos X de escritorio TDM-10 es un potente instrumento analítico con un importante valor de aplicación en múltiples campos.

Los accesorios de fibra se prueban para determinar su estructura cristalina única mediante el método de difracción (transmisión) de rayos X. Pruebe la orientación de la muestra en función de datos como la textura de la fibra y el ancho de medio pico.

El difractómetro monocristal de rayos X TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; Puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular del cristal, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. El difractómetro monocristal de rayos X se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. El difractómetro de rayos X de cristal único es un producto de alta tecnología en el marco del Proyecto Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Principales del Ministerio de Ciencia y Tecnología, dirigido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., que llena el vacío en el desarrollo y la producción de difractómetros de rayos X de cristal único en China.

Los accesorios de fibra se prueban para determinar su estructura cristalina única mediante el método de difracción (transmisión) de rayos X. Pruebe la orientación de la muestra en función de la cristalinidad de la fibra y el ancho de pico medio de las fibras. Este tipo de accesorio generalmente se instala en un difractómetro de ángulo amplio y se utiliza principalmente para estudiar la textura de películas delgadas sobre el sustrato, realizar detección de fase de cristal, orientación, pruebas de estrés y otras pruebas.

El difractómetro de rayos X de cristal único se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; El difractómetro de rayos X de cristal único puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. El XRD de cristal único se usa ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. La difracción de rayos X de un solo cristal tiene una alta precisión: Precisión de repetibilidad del ángulo 2θ: 0,0001°; Ángulo de paso mínimo: 0,0001°; Rango de control de temperatura: 100 K-300 K Precisión de control: ±0,3 K El instrumento de medición de ángulos de cristal único selecciona cuatro círculos de exploración concéntricos. El XRD de cristal único adopta una configuración de baja temperatura. El personal técnico de la empresa ha completado la instalación y depuración del difractómetro de rayos X monocristalino extranjero, y los resultados de las pruebas han satisfecho enormemente a los usuarios extranjeros. Al mismo tiempo, la funcionalidad, la estabilidad y el servicio posventa del instrumento han recibido elogios unánimes de los usuarios extranjeros. En general, el difractómetro de rayos X de cristal único desempeña un papel irreemplazable como instrumento científico importante en la investigación y la aplicación en múltiples disciplinas. Con el avance y la innovación continuos de la tecnología, creemos que en el futuro, el difractómetro de rayos X de cristal único demostrará su valor y potencial únicos en más campos.

El portamuestras multifunción es un dispositivo que se utiliza para proporcionar flexibilidad y alta eficiencia en diversas aplicaciones industriales y de investigación científica. Se utiliza comúnmente en el análisis de difracción de rayos X (DRX) y la microscopía electrónica, y es un accesorio de los difractómetros de rayos X (accesorio de DRX). Como accesorio de los difractómetros de rayos X (accesorio de DRX) generalmente equipados con encimeras ajustables para acomodar muestras de diferentes tamaños y formas. El portamuestras multifunción es una de las herramientas indispensables en los laboratorios e instituciones de investigación modernos. Promueve en gran medida el desarrollo de la investigación científica y las aplicaciones industriales al proporcionar una plataforma de procesamiento y análisis de muestras flexible, eficiente y precisa. Ya sea en los campos de la ciencia de los materiales, la biomedicina o la industria electrónica, el portamuestras multifunción juega un papel importante para ayudar a los investigadores e ingenieros a comprender y mejorar mejor sus temas de investigación.

El portamuestras multifunción pertenece al accesorio de difractómetro de rayos X (accesorio XRD), que adopta tecnología de diseño avanzada e ideas de diseño modular, y logra funciones como rotación, diferencial de elevación y resistencia a la oxidación a alta temperatura mediante la combinación de diferentes módulos. El portamuestras multifunción es adecuado para varias tecnologías avanzadas de crecimiento y deposición de películas delgadas, incluidas MBE (epitaxia de haz molecular), PLD (deposición por láser pulsado), pulverización catódica con magnetrón y EB (evaporación por haz de electrones), y también se puede utilizar para recocido de sustratos, desgasificación a alta temperatura y modificación de materiales. El sustrato del portamuestras multifunción puede alcanzar una temperatura máxima de calentamiento de 1100 ℃ y se puede conectar a RF/CC, con rotación automática y una velocidad de 0 a 20 revoluciones por minuto. Es ajustable de forma continua y proporciona posicionamiento cero. El diseño modular permite seleccionar múltiples configuraciones de combinación y el tamaño de la muestra puede ser de hasta 8 pulgadas. En resumen, el portamuestras multifunción es un equipo experimental potente y flexible, adecuado para diversas investigaciones científicas y aplicaciones industriales como accesorio de difractómetro de rayos X (accesorio XRD). El diseño modular y las múltiples funciones de la plataforma de muestra multifuncional lo convierten en una herramienta indispensable en los laboratorios y la producción industrial.

El accesorio de medición de película óptica paralela es una herramienta especializada para el análisis de difracción de rayos X, que filtra más líneas dispersas al aumentar la longitud de la placa de rejilla, reduciendo así la influencia de la señal del sustrato en los resultados y mejorando la intensidad de la señal de la película delgada. En el campo de la ciencia de los materiales, el accesorio de medición de película óptica paralela se usa comúnmente para estudiar la estructura cristalina, el comportamiento de transición de fase y el estado de tensión de los materiales de película delgada. Con el desarrollo de la nanotecnología, el accesorio de medición de película óptica paralela también se ha utilizado ampliamente en pruebas de espesor y análisis de difracción de ángulo pequeño de películas nano multicapa. El diseño y la fabricación del accesorio de medición de película óptica paralela persiguen una alta precisión para cumplir con los requisitos de la investigación científica y la producción industrial para la precisión de los datos. Durante el uso, el accesorio de medición de película óptica paralela debe mantener un alto grado de estabilidad para garantizar la confiabilidad de los resultados de la prueba. Con el avance de la tecnología y el desarrollo de la industria, la demanda de instrumentos analíticos de alta precisión y alta estabilidad aumenta constantemente. Los accesorios de medición de película óptica paralela, como un componente importante, también están experimentando un crecimiento sostenido de la demanda del mercado. Para satisfacer la demanda del mercado y mejorar el rendimiento del producto, la tecnología de los accesorios de medición de película óptica paralela está innovando y mejorando constantemente. Por ejemplo, mejorar el material y el diseño de las placas de rejilla, optimizar el sistema óptico y otros medios pueden mejorar el efecto de filtrado y la capacidad de mejora de la señal. En resumen, los accesorios de medición de película óptica paralela juegan un papel crucial en el análisis de difracción de rayos X. Con el avance de la tecnología y el desarrollo de la industria, sus perspectivas de aplicación serán aún más amplias.

Los accesorios de fibra se prueban para determinar su estructura cristalina única mediante el método de difracción (transmisión) de rayos X. Pruebe la orientación de la muestra en función de datos como la cristalinidad de la fibra y el ancho de medio pico. Los accesorios de fibra tienen una amplia gama de aplicaciones en diversos campos, incluida la ciencia de los materiales, la biomedicina, la ingeniería química, la nanotecnología, la exploración geológica, el monitoreo ambiental y más.

El difractómetro de rayos X de cristal único TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; El difractómetro de rayos X de cristal único puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular del cristal, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. La XRD de cristal único se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. El difractómetro monocristalino adopta la técnica de concentricidad de cuatro círculos para garantizar que el centro del instrumento de medición de ángulos permanezca inalterado independientemente de la rotación, logrando así el objetivo de obtener los datos más precisos y una mayor integridad. La concentricidad de cuatro círculos es una condición necesaria para el escaneo monocristalino convencional. El personal técnico de la empresa ha completado la instalación y la depuración del difractómetro de rayos X de cristal único extranjero, y los resultados de las pruebas han satisfecho enormemente a los usuarios extranjeros. Al mismo tiempo, la funcionalidad, la estabilidad y el servicio posventa del instrumento han recibido elogios unánimes de los usuarios extranjeros.

El uso de un detector de píxeles híbridos permite obtener la mejor calidad de datos, garantizando al mismo tiempo un bajo consumo de energía y una baja refrigeración. Este detector combina las tecnologías clave de conteo de fotones individuales y píxeles híbridos, y se aplica en diversos campos, como la radiación de sincrotrón y las fuentes de luz de laboratorio convencionales, eliminando eficazmente la interferencia del ruido de lectura y la corriente oscura. La tecnología de píxeles híbridos puede detectar directamente los rayos X, lo que facilita la distinción de señales, y el detector puede proporcionar datos de alta calidad de manera eficiente.