La difracción de rayos X (DRX) en polvo permite el análisis no destructivo de tensiones residuales mediante la detección de la deformación reticular mediante desplazamientos de picos de difracción, utilizando el método ψ fijo y la ley de Hooke. Es fundamental para los sectores de materiales, aeroespacial, automotriz y de manufactura.

Un difractómetro de rayos X monocristalino revela la estructura atómica tridimensional mediante el análisis de patrones de difracción de rayos X (Ley de Bragg). Mediante la recopilación de datos, la transformación de Fourier y el refinamiento del modelo, genera mapas de densidad electrónica para determinar las configuraciones moleculares.

Un monocristal de calidad para difracción de rayos X requiere una elección óptima del solvente (solubilidad/volatilidad moderadas), un método de crecimiento adecuado (evaporación/difusión), una alta pureza de la muestra y un entorno libre de vibraciones para garantizar una morfología bien definida y defectos mínimos.

Este artículo detalla una estrategia integral de tres frentes para eliminar la interferencia por difracción de orden superior en el análisis de monocristales de rayos X. Los métodos incluyen la filtración de hardware en la fuente mediante monocromadores y rendijas, la optimización de parámetros durante la recopilación de datos para suprimir la detección y algoritmos de corrección de software para los efectos residuales en el procesamiento de datos. Este enfoque combinado garantiza una determinación de alta precisión de la estructura cristalina mediante el control de los errores de intensidad.

Los analizadores XRD utilizan la Ley de Bragg para medir los ángulos de difracción, lo que permite la decodificación no destructiva de las fases cristalinas, las constantes reticulares, el tamaño del grano y la tensión de los cambios de espaciado interplanar.

El mantenimiento de XRD sigue el principio de "Prevención ante todo, inspección regular". Los protocolos de seguridad exigen "Prioridad de protección, procedimientos estandarizados". Las prácticas clave incluyen el control ambiental, el cuidado de los componentes, estrictas comprobaciones de seguridad y un apagado correcto. El cumplimiento garantiza la longevidad del instrumento, la seguridad del operador y la fiabilidad de los datos.

Un analizador de cristales de rayos X de primera calidad que permite la exploración precisa de las microestructuras de los materiales. Su avanzado control PLC, diseño modular y robusta potencia de 5 kW garantizan una alta fiabilidad para aplicaciones globales de I+D y control de calidad industrial.

El difractómetro de rayos X TD-3500 garantiza un funcionamiento estable gracias a la automatización PLC de cadena completa y un goniómetro de alta precisión con corrección de errores en tiempo real, logrando una reproducibilidad angular excepcional. Ofrece configuraciones flexibles para diversas aplicaciones y realiza análisis exhaustivos en diversos campos críticos.

El TD-3700 es un difractómetro de rayos X de última generación con un detector de matriz de alta velocidad para una intensidad mucho mayor y un análisis rápido y sin ruido. Su modo de transmisión destaca con muestras traza. Modular y de un solo toque, garantiza un funcionamiento sencillo y cumplimiento normativo global para diversas aplicaciones de laboratorio en todo el mundo.

El analizador XRD de sobremesa TDM-20 redefine los estándares de rendimiento con un innovador núcleo de potencia de 1200 W, el doble del estándar convencional. Esto permite análisis más rápidos y precisos, desde I+D hasta control de calidad, en industrias como la farmacéutica, la ciencia de los materiales, la minería y la seguridad alimentaria.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es una empresa china de alta tecnología especializada en análisis de rayos X y equipos de END. Con una fuerte competitividad en XRD, ofrecemos herramientas precisas para la investigación y la industria a nivel mundial.

La eficiencia del difractómetro de polvo se puede duplicar optimizando la preparación de la muestra (molienda, carga), los parámetros del instrumento (rango de escaneo/velocidad) y la implementación del procesamiento por lotes y el mantenimiento rutinario. Estos pasos garantizan datos de alta calidad y reducen significativamente el tiempo experimental y la repetición del trabajo.