Nueva fuerza en la difracción de rayos X

El difractómetro de rayos X TD-3500 ofrece una precisión excepcional con una repetibilidad de 0,0001° y un control PLC avanzado. Este versátil instrumento realiza análisis de materiales exhaustivos en polvos, películas y muestras a granel, garantizando la máxima seguridad gracias a sus mecanismos de doble protección. Adoptado por laboratorios internacionales, establece nuevos estándares en rendimiento analítico y fiabilidad para aplicaciones de investigación globales.

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