$Pantalla de mapa de análisis de muestras de difractómetro TD-3700$

Pantalla de mapa de análisis de muestras de difractómetro TD-3700

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructuras cristalinas, análisis de estructuras de materiales, análisis de orientación de cristales de muestras de polvo, bloques o películas delgadas.

2023/08/11

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