Accesorio de película fina de primera calidad

Este accesorio de película delgada para difractómetros de rayos X permite el análisis de alta precisión de películas sobre sustratos. Su óptica optimizada suprime la interferencia del sustrato, optimizando las señales débiles de la película para obtener datos fiables desde nanómetros hasta micrómetros. Esencial para I+D en electrónica, semiconductores y nuevas energías.

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