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+86-415-6123805El método de ayudar a la tensión interna sin energía adicional propuesto en este artículo proporciona una nueva estrategia económica y conveniente para mejorar la dinámica de reacción de la batería.
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La tecnología de difracción de rayos X se utiliza ampliamente en la investigación de baterías de iones de litio. XRD es un método convencional para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases en materiales.
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El principio de muchos dispositivos de caracterización es hacer que los electrones interactúen con sustancias que deben detectarse, excitar electrones secundarios o realizar transiciones y retrocesos a nivel atómico y liberar energía característica.
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A medida que la demanda de baterías de litio sigue creciendo, es necesario mejorar urgentemente sus estándares de producción y seguridad, por lo que los sistemas de inspección 3D de alta resolución y alto rendimiento son esenciales.
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XRD puede medir muestras a granel y en polvo, y tiene diferentes requisitos para diferentes tamaños y propiedades de muestras.
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El difractómetro de rayos X (DRX) mundial se ha desarrollado de manera constante en los últimos años y China es un mercado con grandes perspectivas de desarrollo.
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Tomando como ejemplo el escalamiento de la deposición, este artículo presenta cómo utilizar el difractómetro de rayos X para el análisis cuantitativo y de fase cualitativa.
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La aplicación de nuevas tecnologías y nuevos productos como 5G, big data e inteligencia artificial generará una enorme demanda en el mercado de semiconductores, y el gasto mundial en equipos de semiconductores ha entrado en un ciclo ascendente.
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En los últimos años, ha habido un interés creciente en la medición de muestras biológicas de alta presión. Esto se refleja en el desarrollo de nuevas técnicas de medición de presión diferentes a las implementadas por DAC. Una de ellas es la técnica de congelar cristales bajo presión.
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XRD de alta resolución (HR-XRD) es un método común para medir la composición y el espesor de semiconductores compuestos como SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.
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